XRF技术在选矿厂快速检测中的应用

探讨了手提式X射线荧光仪在对不同含量范围的铜矿进行快速测定的应用,对影响分析结果的因素以及校正方法进行了研究,得出了最佳分析条件是对铜矿样品研磨至过0.074 mm筛,放置在样杯中的厚度在1.5 cm以上,测定时间为60 s。在选矿厂选矿流程的实际应用表明,采用该方法对铜矿的分析与常规化学分析方法相比,原矿误差能控制在0.05%以内,精矿能控制在0.40%以内,尾矿可控制在0.008%以内,能满足生产要求。