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相频特性测试在TMS320F2812中的实现
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作者 吴清华 袁高平 《世界电子元器件》 2007年第3期48-50,共3页
在放大电路设计中,由于结构或元器件的不同,即使在设计上完全一样的电路,也有可能由于元器件特性的不同造成电路性能的变化。为了保证质量及性能参数的一致性,测试环节不可或缺。
关键词 TMS320F2812 特性测试 相频 电路设计 电路性能 器件特性 性能参数 元器件
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