常规馈通电压计算原理涉及到OLED体的电容值,不同型号OLED产品电容值是个变量,为了得到最佳的电容值,OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏...常规馈通电压计算原理涉及到OLED体的电容值,不同型号OLED产品电容值是个变量,为了得到最佳的电容值,OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压,无需测量OLED体的电容值和修正Vcom值即可补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压。实验结果表明,基于馈通电压自动补偿原理设计的Shorting Bar Test Waveform与Vcom人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致,而对不同缺陷的检测率有微小差异。展开更多
文摘常规馈通电压计算原理涉及到OLED体的电容值,不同型号OLED产品电容值是个变量,为了得到最佳的电容值,OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验。本文直接通过栅极电压上拉使OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压,无需测量OLED体的电容值和修正Vcom值即可补偿栅极电压关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压。实验结果表明,基于馈通电压自动补偿原理设计的Shorting Bar Test Waveform与Vcom人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致,而对不同缺陷的检测率有微小差异。