碳剥离膜的制备

采用辉光放电裂解乙烯法和碳弧法，为串列加速器制备了长寿命碳剥离膜。研究了裂解室的阳极尺寸和阳、阴极之间的距离对裂解碳膜均匀性的影响。用分光光度法测量了碳剥离膜的厚度。

用分光光度计测量核靶厚度和均匀性

文章叙述了吸光光度法测量核靶厚度和均匀性的一般原理,并给出碳膜和金属膜的具体测量方法,本方法的厚度测量范围为5—200μg/cm^2,测量精度为10%。

Be靶制备技术研究

介绍了Be靶制备的电阻加热法、滚轧法、静电振动法、离心沉淀法、聚集束溅射法等。结果显示 :电阻加热和滚轧制备自支撑Be靶的厚度范围分别为 2 0～ 970 μg/cm2 和 3 8～ 2 0 μm。

核靶厚度和均匀性测量

文章系统地介绍了核靶厚度和均匀性的测量方法,这些方法都有各自的特点:石英微量天平的灵敏度高(0.04μg/cm^2);等效空气α粒子测厚仪的测量范围宽;吸光光度法测量快速而背散射法既能测量核靶厚度又能分析靶膜的杂质。结合以上方法,能测量不同元素和不同种类核靶的厚度和均匀性。

滚轧法研制自支撑金属靶

文章叙述了用实验室型滚轧机研制了五十多种核靶的工艺过程。靶的厚度范围是0.3—20mg/cm^2,其均匀性用带电粒子能量损失法测量,一般好于96%。背散射测量表明,滚轧过程引入的杂质<0.2μg/cm^2。

同位素靶制备技术的研究

系统地介绍了同位素靶的制备技术，包括核靶的制备手段（真空蒸发、聚焦重离子束溅射、滚轧、电镀、离心沉淀），同位素化合物还原工艺（还原蒸馏、电解还原）和核靶的贮存方法（干燥法、抽真空法、低温干燥法）。

几种特殊的滚轧制靶技术

描述了几种特殊的滚轧技术，包括中间退火。双层材料靶的轧制、电容器纸作内衬、气体靶室封窗膜的制备、材料熔化和粉末材料靶的轧制等。

磁偏转电子枪研制核靶

文章叙述了磁偏转电子枪的原理和结构以及用ＥＱＤ－３型电子枪研制各种核靶的工艺过程。

硼靶制备技术的研究

介绍 Ｂ靶制备技术及其质量厚度测量方法。静电振动、高压电喷和离心沉淀主要用于制备有衬 Ｂ靶，而聚焦重离子束溅射和电子轰击可用来制备自支撑 Ｂ靶和有衬 Ｂ靶。 Ｂ靶的质量厚度用分光光度法和称重法测量。

石英晶体测厚仪监控核靶厚度

一、引言随着核物理研究的不断深入和高稳定性加速器及高分辩探测系统的发展,对核靶质量的要求越来越高。为获得高质量的核靶,必须在靶膜沉积过程中控制薄膜形成的条件。就蒸发膜而言,除了要有较好的蒸发源,清洁的高真空系统及一定的衬底温度外,必须对膜层厚度和蒸发速率进行精确控制。为此。

金属化有机膜制备方法的研究

计算了真空蒸发制备薄膜时造成衬底温度升高的热量—蒸发源的辐射热和沉积时的冷凝热。总结了制备金属化有机膜时防止衬底软化的各种方法，包括提高蒸发距离、降低沉积率、减少蒸发源尺寸和采用挡板等。

同位素铁靶制备技术

介绍了同位素铁靶的制备技术 ,包括氧化铁的还原、铁粉的熔化和铁靶的制备。采用聚焦束溅射和滚轧制备技术能获得自支撑56Fe靶的最小厚度分别为 5 0和 3 60 μg/cm2 。

静电振动法制备核靶

描述了静电振动制靶方法。该法的基本过程是细微粒子在静电场中作振动并在电极上沉积成膜。用静电振动法已制成２０ 多种自支撑靶和有衬底靶，靶的质量厚度范围为１０～１３００ μｇ／ｃｍ ２。靶的均匀性用α测厚仪测量，一般好于９６ ％ 。

核靶厚度控制方法的研究

介绍了核靶厚度的在线控制和离线控制技术．在线控制包括石英晶体膜厚计法、时间法和计算法；离线控制有天平称重法、α测厚仪和分光光度计法．

几种特殊靶的制备方法

文章介绍了几种特殊靶的制备，包括７０ｍｇ·Ｃｍ－２的自支撑Ｂｉ靶、Ｍｏ封窗膜、１５—５０μｇ·Ｃｍ－２的自支撑Ｓｃ靶、（ＣＤ２）ｎ靶和７０μｇ·ｃｍ－２的自支撑Ｃｏ靶。

铁靶制备技术的研究

文章介绍Fe靶制备技术及其厚度测量方法。真空蒸发和滚轧法能获得自支撑靶的最小厚度分别为80和560μg/cm^2。Fe靶的厚度用分光光度法和称重法测量。

加速器质谱方法测量^(41)Ca及其在生物医学中的应用

介绍了用AMS测量4 1Ca的方法及其在生物医学中的应用 ,以及中国原子能科学研究院目前开展4 1Ca的AMS测量及其应用研究的情况 .

串列加速器上扰动角关联探针核产生截面测量

在中国原子能科学研究院HI 13串列加速器上通过6 3 Cu(p ,2n) 6 2 Zn、Cd(p ,xn) 111In和186 W (d ,p) 187W核反应产生6 2 Zn/ 6 2 Cu、187W / 187Re和111In/ 111Cd扰动角关联探针核 ,测量了生成这些探针核的核反应截面。

X光滤片制备方法研究

研究了采用轧制、电阻加热、电子枪和C弧等制备X光滤片的方法,采用天平称重、α测厚仪和光学法等测量X光滤片厚度。分析了各种方法的适用范围及其优缺点,成功地制备了多种X光滤片。

加速器质谱(AMS)测量中^(41)Ca标准样品的制备

简要介绍加速器质谱 ( MAS)测量样品采用 Ca H2 以排除 4 1K的干扰。其制备主要包括两步 :首先是Ca O与过量的 Zr粉混合 ,在高温下还原出金属钙 ,然后金属钙与氢气在密闭容器中加热反应生成 Ca H2 。从金属钙到 Ca H2 的转换效率大于 90 %。