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双极电路欧姆接触问题的工艺分析与解决方案
被引量:
2
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作者
阚玲
张扬波
+1 位作者
许生健
朱煜开
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期678-681,共4页
为解决一种双极集成电路在生产中欧姆接触电阻过大的问题,针对关键工艺进行了统计分析和专项实验,找到了问题的原因和解决方法,对提高大规模集成电路的工艺制造稳定性具有非常重要的意义。
关键词
双极集成电路
欧姆接触
薄氧化物
湿法腐蚀
工艺控制
下载PDF
职称材料
题名
双极电路欧姆接触问题的工艺分析与解决方案
被引量:
2
1
作者
阚玲
张扬波
许生健
朱煜开
机构
中国电子科技集团公司第二十四研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期678-681,共4页
文摘
为解决一种双极集成电路在生产中欧姆接触电阻过大的问题,针对关键工艺进行了统计分析和专项实验,找到了问题的原因和解决方法,对提高大规模集成电路的工艺制造稳定性具有非常重要的意义。
关键词
双极集成电路
欧姆接触
薄氧化物
湿法腐蚀
工艺控制
Keywords
Bipolar IC
Ohmic contact
Thin oxide
Wet etch
Process control
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
双极电路欧姆接触问题的工艺分析与解决方案
阚玲
张扬波
许生健
朱煜开
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2007
2
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