基于ATE的Nand Flash功能测试优化方法

针对利用自动测试设备测试Nand Flash电路的功能时,遇到坏块就会判定Nand Flash功能失效的问题,对Nand Flash功能测试优化方法进行了研究,使用自动测试设备(ATE)测试系统的紧凑型故障存储器(CFM)的功能,通过纠错码(ECC)将测试结果实时捕获到CFM中,测试程序从CFM中即可读取测试通过或者失败的判断,从而可以更加清晰地判别电路存储单元的性能,解决了在测试Nand Flash电路过程中遇到坏块就判定其功能失效的问题。

基于多元线性回归的城市房地产销售率影响要素分析

根据2006~2015连续10年的历史数据对北京等7个不同类型城市的商品房销售率与房屋均价、人均可支配收入、人口密度等3个因素建立多元线性回归模型,通过在95%置信水平下的F检验与t检验,分别确定了总体线性相关的显著性和各个变量影响的显著性,为识别影响决策变量的关键因素,为在制定房地产调控政策时选择主攻方向提供了一种值得借鉴的思路。

基于ATE的NAND FLASH测试方法研究

随着信息化时代的发展,全球对数据存储的需求越来越多,NAND FLASH作为一款大容量存储器也被广泛应用到各种储存设备中,其测试评价需求也日益递增。该文针对这类存储器介绍了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的NAND FLASH测试方法。首先以镁光的MT29Fxx Gxx芯片为例,介绍了NAND FLASH存储器的基本工作原理,并从功能测试、直流参数、交流参数三个方面对常用的测试方法进行了阐述。