基于NI FlexRIO的高速ADC性能测试系统

这是FlexRIO在半导体芯片有效性测试中的一个典型应用。高速ADC的传统测试系统的设计极有可能遇到一些棘手问题。基于FlexRIO的测试系统,很好地解决了传统测试方法中的这些关键性问题,并且能确保在测试系统开发时,开发人员能够将更多的精力放在与其目标应用直接相关的部分,从而缩短开发周期,节省开发人力成本。