近红外高光谱成像技术的桃轻微损伤早期检测

以“北京8号”桃为研究对象，应用900～1700nm 范围内近红外高光谱成像技术对损伤发生12h 后的桃进行损伤早期检测研究。通过光谱比较，确定出识别光谱区域为950～1350 nm。基于此光谱区域，利用主成分分析与独立成分分析不同方法进行降维，结合中值滤波、阈值分割等数字图像处理算法进行损伤区域的检测。对60个正常样本和60个损伤样本进行检测，主成分分析方法对损伤果的识别率为85％，独立成分分析方法对损伤果识别率为96．6％，两种方法对正常果的识别率均为100％。结果表明：近红外高光谱成像技术能有效地进行桃损伤的早期检测。