期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
静电放电(ESD)的测试与ESD引起元器件失效的机理
1
作者 谢易祥 《航空精密制造技术》 1997年第3期4-8,共5页
综述了辐射引起的ESD的预测，直接放电的ESD的预测．这些预测包括静电场、在敏感电路上的感应电压、在电线上ESD感应电压等的预测．同时还介绍了合适的屏蔽方法以改善ESD的影响以及引起元器件失效的机理．
关键词 静电放电 静电放电敏感电路 静电放电预测
原文传递
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部