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AT&T准则下完全检验的最优设计(英文) 被引量：1
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作者 王强 谢王利 《数理统计与管理》 CSSCI 北大核心 2003年第6期29-35,共7页
本文研究了完全检验的质量控制问题,将广泛用于X-控制图的AT＆amp;T准则应用于完全检验,并根据完全检验的特点,提出一种新的最优模型,数值实验结果表明AT＆amp;T准则下的完全检验优于传统的完全检验。
关键词 完全检验 质量控制 X控制图 AT&T准则
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