X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探

用开发的ＴＢＨＸＲＦ基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β，导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中，三次荧光的影响不能忽略，从对比实验中得出结论，对Ｎｉ浓度高的钢铁样品在分析Ｃｒ时，必须考虑Ｎｉ、Ｆｅ对ＣｒＫα的三次荧光效应影响。

用X射线光谱法测定锰的X射线发射谱的细结构及锰的价态分析

在普通的ＸＲＦ光谱仪上测定金属锰、氧化锰、锰的化合物中ＭｎＫβ发射谱带，经谱数据处理获得了谱线的轮廓线及谱峰参数（峰位、峰高、峰宽、峰函数比例因子、不对称因子）；研究了谱参数与价态间的关系。结果表明ＭｎＫβ谱带结构与化合价、氧化数、化学键及配位状况有关，利用所得出的规律对太平洋锰结核的价态作了定性测定，并用谱峰分解法对Ｍｎ＿３Ｏ＿４试样进行化学价态定量分析的尝试，得到满意的结果。

X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析

讨论用普通的X射线荧光光谱仪 ,采用谱峰分解法和谱峰合成法对钒氧化物的混合物中氧化态V2 O3、V2 O4、V2 O5 的定量分析。谱峰分解法系以每种钒氧化态的标准谱形函数为基础 ,用最小二乘法求解。而谱峰合成法则是以每种纯氧化态的测量谱线为基础 ,用定标技术求解。用上述方法测定钒氧化物产品 ,其结果与化学法、电化学法的结果一致 ,最大相对误差为7 7%。

X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)

本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、X射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热钢标样 ,主量、常量元素的平均相对分析误差 <0 .5 %,对低含量轻元素Si、P、

用普通X射线荧光光谱仪进行铁价态的定量分析

本文用普通Ｘ射线荧光光谱仪，结合自编的ＰＥＡＫＦＩＴ谱处理系列软件，对按不同比例配制ＦｅＯ和Ｆｅ２Ｏ３混合物的Ｋβ谱形及谱峰参数进行了研究，用数学方法把实测的谱峰（各价态的重叠峰）分解为各化合态的子谱峰，求出了子峰的面积与总面积的比值，科学地找出了谱峰参数与铁价态的关系。

用通用X-射线荧光光谱仪进行铬的的形态分析

本文用通用Ｘ－射线荧光光谱仪和一套自行设计的谱分析程序对一些含铬物质的Ｋβ发射谱进行了形态分析。谱强度数据经过处理后，得到了谱形和谱峰参数（峰位、峰高、半峰宽和非对称因子等）和形态之间的一些定性、定量关系。并利用所得出的规律分析了化学镀铬层和不锈钢中的铬元素的形态分布，分析结果的相对误差在１０％以内。

理论强度公式在X-射线荧光光谱分析中的应用

介绍理论强度公式的应用 :计算基体效应 ,估算三次荧光 ;标准样品数据及实验条件的检验 ;预测标样的适用性 ;稀释率的确定。

Arai实测谱分布数据的应用

对Arai的靶原级谱分布数据 ,通过插值、拟合处理 ,获得适用于数值积分的Δλ =0 0 0 2nm的谱分布数据 ,建立了新的谱分布数据文件 ,应用于FPM程序中。并对耐热钢GH131进行实验研究。理论强度与测量强度的相关性良好 ;基本参数法与理论影响系数法分析结果与确认值一致 ,对Cr,Ni分析的相对误差 <1 0 %。结果表明 :经处理的Arai的靶原级谱分布数据应用于FPM程序 ,提高了分析准确性 ,并扩大了基本参数法与理论影响系数法的应用范围。

钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析

用普通Ｘ射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中Ｖ的Ｋβ谱线，借助一套有效的谱处理程序，获得了有关Ｋβ谱线精细结构的谱峰参数，证实了谱线轮廓（Ｋβ″峰逐渐显著，Ｋβ５、Ｋβ″向高能端位移，Ｋβ５与Ｋβ１，３的分开趋势，Ｋβ１，３半峰宽发生变化）及谱峰参数（Ｋβ５峰能量，Ｋβ５与Ｋβ１，３能量差，Ｋβ５与Ｋβ１，３及Ｋβ″与Ｋβ１，３的强度比，以及Ｋβ５和Ｋβ１，３的不对称因子）与Ｖ的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化。

X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值

用Ｘ射线荧光光谱法测定了一系列钒的氧化物混合物中Ｖ的Ｋβ谱线的精细结构，研究了钒的氧化物中Ｋβ谱峰参数随混合物平均原子价变化的规律，并利用所作的定标曲线对一些实际样品，如钒渣、磁铁矿中钒的平均原子价进行了定量测定。

X射线荧光光谱分析不锈钢时的数学校正方法

本文探讨了用XRF法分析不锈钢时，用个别交叉项系数校正Cr、Fe、Ni之间的交叉效应，从而有效地修正了它们之间的吸收一增强效应，使分析结果得到改善，最大误差不超过0．5％。与C－Q方程相比，该法计算简便，具灵活性和实用性，可推广使用。

XRF数学校正模式中几种修正系数计算方法的研究及应用

对三种理论系数的计算方法进行了深入系统的研究，获得了系数的某些规律与合理的计算法则、以及有关样品分析和ＸＲＦ基础研究的主要信息（二元系数αｉｊ、三元系数ｄｉｊ与原子序数Ｚｊ或浓度Ｗｊ间存在特殊的关系，多组分微小变动系数δｉｊ具有对称性）。分别用所获法则计算了ＤＪ，ＬＴ，ＪＩＳ数学模式中的各种系数，并应用于钒钛铁矿及其渣或中、低合金钢中主要元素的分析。

理学/多元素同时分析型X射线荧光分析仪——New SIMULTIX 10 SIMULTIX 11

文章介绍的SIMULTIX 10和SIMULTIX 11是拥有众多用户的SIMULTIX 3550型仪器之后开发的新机型。由于采用了最新的硬件和软件,因而进一步体现了高性能、小型化、高速度和易操作的特点,以满足多样化的分析要求。