基于机器视觉的点胶质量检测方法

针对传统点胶缺陷检测成本高、效率低等问题,提出基于机器视觉的点胶质量检测方法。通过图像分割以及形态学等图像处理手段,结合亚像素边缘提取方法准确定位出点胶区域轮廓,选取模板,采用归一化互相关匹配算法进行模板匹配,计算刚性仿射变换矩阵,并将其应用于待检产品图像,通过对目标区域计算,判断合格品及不合格产品的类型。实验结果表明,文章所提方案能快速、准确的判别出产品是否合格,并针对不合格产品判断其类型,准确率为99.6%,检测时间为354.6ms,具有良好的准确性以及快速性,满足工业生产要求。

基于运动误差约束的平面定位平台拓扑优化设计

针对传统平面定位平台拓扑优化设计过程中无法预先了解输入输出位移映射矩阵的问题,基于固体各向同性材料惩罚法,采用遗传算法优化得到具有最大运动空间时的平面并联机构雅克比矩阵作为平面定位平台输入输出期望位移映射矩阵,在相同输入条件下,建立以机构实际运动与期望运动间误差最小为目标函数和以机构体积为约束函数的平面定位平台拓扑优化模型并求解。通过3D打印方式得到实验样品,实验与仿真分析表明:采用运动误差约束的平面定位平台拓扑优化设计方法,在一定偏差范围能够得到输入输出位移映射矩阵与给定期望映射矩阵相一致的平面定位平台,表明该方法对平面定位平台设计具备有效性,为其后续研究提供基础。

S曲线加减速控制在数控机床研究中的应用进展

在数控机床使用中,机床初始启动所引起的惯性加速度会严重影响机床的稳定性,且容易产生磨损。采用S曲线加减速控制方法能够有效地解决数控机床出现的加速度突兀问题,从而使机床运行平稳,增大其工作效率。总结了数控机床的发展状况,介绍当前数控机床的控制方法以及S曲线加减速控制的主要特点。针对S曲线加减速控制的特点,分别分析了加减速控制特征对比、S曲线算法以及S曲线的数学模型。

基于X光图像的芯片在线自适应计数算法研究

为提高生产线上芯片计数的自动化程度,提出一种基于X光图像的芯片在线自适应计数算法。对X光拍摄的半导体芯片图像进行预处理,利用自动阈值提炼背景区域;对提炼后的背景区域进行自动阈值提取出芯片区域,通过遍历芯片区域的面积估算单个芯片的面积;设置相应的倍数关系来区分粘连区域和噪声区域,将所有连通区域的个数求和即可得到图像中所有芯片的个数。测试结果表明,自动计数得出的数量偏差率平均为0.03%,耗时平均2.9s 1张,能满足生产线上自动计数的精度高、耗时短等要求。