面向光芯片测试的ATE数据存储传输系统的设计

光芯片是在光纤系统中实现光电信号转换的重要器件,因此在生产制造完成后需要经过大量测试。集成电路自动测试设备(auto test equipment,ATE)是现今芯片测试中所使用的主要设备,在对光芯片测试时有自动化程度高、精度高、测试范围广、速度快等优势。由于ATE设备每次测试时需要传输大量数据,而太长的测试时间会提高测试成本,因此ATE系统对数据的交换速度要求很高。为了提高光芯片测试过程中数据传输和存储的效率,设计了一套基于嵌入式系统芯片和FPGA的高速数据存储传输系统,通过使用增强型直接存储器访问模块驱动GPMC接口以提高传输带宽,在FPGA上优化了数据的传输方式以提高DDR3 SDRAM的接口利用率。经过上板测试,单通道下读写带宽分别达到413.3 Mbit/s和984.6 Mbit/s,实现了数据在系统中高速传输与稳定存储。