用ActiveX技术集成多个应用软件

本文介绍了近来在Windows95和NT中发展起来的ActiveX容器技术。该技术将多个应用软件很快地集成在一起,形成一个统一的系统,使程序间很容易共享数据。文中还讨论了它给程序开发者和最终用户带来的好处以及发展前景。

关于多芯片模块基板的测试技术

本文评述一些测试多芯片模块(MCM)基板的技术。这些测试技术涉及电容测试、电阻测试、电子束测试、潜开路测试、时域网络分析(TDNA)和高频谐振器等技术。在本文中,这些技术被用于互连测试。

软硬件系统可测试性设计的研究

复杂系统的可测试性设计(DFT)必须综合软件和硬件设计手段,才能达到完善的解决方案。作者在本文中对现有的新兴概念的研究,也许对测试设计有指导作用。

关于频谱分析仪动态范围的技术条件

本文以一个频谱分析仪技术条件的数据资料为参考,探讨关于其动态范围的种种解释。

嵌入式内核的测试——设计和测试的一次座谈会

在布局、网络列表和可综合的寄存器传送级格式中,内核已经成为芯片设计方法的一个完整部分。芯片是高度集成化的,元件密度很高,设计人员又要抢时间,尽早地把产品推向市场。因此,如何重复利用内核及其它形式的设计便成为很重要的问题。但是,设计人员在内核的设计、复杂芯片的内核互连以及组装内核测试程序方面却面临着许多难题。这次座谈会把电子设计自动化供应商、内核和固件设计公司的代表召集在一起。来讨论这些关键性的问题。

Windows NT保护测试应用

在ATE控制和数据采集领域,Windows NT正逐渐受到工程技术人员的欢迎。但Windows NT与Windows 95或Windows 3.1的运行方式是不同的,而这一差别也许会改变用户升级的决定。

使用ActiveX在应用软件间共享数据

本文介绍了微软公司的ActiveX技术在数据传送、应用软件重复使用和单一环境生成等方面的作用,使这些工作变得简单易行。

F-N锁相频率合成的发展及成熟

锁相环(PLL)从技术引向市场虽然已经很长时间,小数(F-N)PLL(即F-N PLL或简称F-N)也不是什么新的发明,但是市场要求其物美价廉。因此,F-N技术需要改进相位噪声,提高速度,尤其是无线电系统。在20～25年前,F-N在技术上遇到复杂性问题,以后,由于数字技术及混合信号专用集成电路(ASIC)的发展,而今F-N实现起来既经济又简单。 但是,市场对其了解仍然还是贫乏的,似乎使用或生产这些硬件的人们没有将其优点传播到市场中去。而今F-N已经不再是早期阶段,其技术已经发展到成熟阶段。F-N PLL芯片技术已经和标准PLL技术一样,使用起来既方便又经济。 本文重点介绍F-N PLL技术基础,包括其优点缺点、状况,关于这种技术的进展及展望,设计功能以及市场应用。本文力图以事例启示读者并着眼于原理而不是详尽的数学推导。