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荧光光谱仪高锰含铁物料工作曲线的绘制与应用
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作者 赵征新 《天津冶金》 CAS 2021年第3期60-63,共4页
由于进厂含铁物料品位的调整,天铁公司中心化验室使用MXF-2400荧光仪分析高锰含铁物料时,物料全铁成分分析结果偏低1~1.5%。为此作者带领化验人员对全铁成分分析误差的原因进行了剖析,发现以前的荧光仪工作曲线已不能完全满足现在含铁... 由于进厂含铁物料品位的调整,天铁公司中心化验室使用MXF-2400荧光仪分析高锰含铁物料时,物料全铁成分分析结果偏低1~1.5%。为此作者带领化验人员对全铁成分分析误差的原因进行了剖析,发现以前的荧光仪工作曲线已不能完全满足现在含铁物料的分析精度要求。通过长期进行重复试验和自行配置高锰含铁物料标准样品,对荧光仪化验低品位、高锰含铁物料的工作曲线重新进行了绘制,最终实现了含锰量在5.17%以下的所有含铁物料全铁元素、锰元素精准测定的目标。 展开更多
关键词 绘制工作曲线 低品位 高锰含铁物料 精准测定
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