正电子发射断层成像空间分辨率的限制及研究进展

介绍正电子发射断层成像设备空间分辨率的发展历程,分析影响空间分辨率的因素。目前,飞行时间技术、新型示踪剂以及硅光电倍增管器件的应用实践在改善图像质量和提高空间分辨率方面获得了显著的成果,具备γ光子沉积深度测量的探测器设计有望进一步降低晶体单元尺寸以及解码误差对于空间分辨率的不利影响。