对有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)微型显示器件进行90℃、80℃、70℃的高温贮存试验,获得产品的失效数据。基于威布尔分布模型,采用最小二乘法进行参数估计,对失效数据分析,获得OLED微型显示器件失效分布函数...对有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)微型显示器件进行90℃、80℃、70℃的高温贮存试验,获得产品的失效数据。基于威布尔分布模型,采用最小二乘法进行参数估计,对失效数据分析,获得OLED微型显示器件失效分布函数。应用经典可靠性理论,计算产品在90℃、80℃、70℃的特征寿命、可靠寿命及平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure,MTBF)。采用Arrhenius模型,依据90℃、80℃、70℃的贮存特征寿命,获得常温下产品的贮存特征寿命。分析结果表明,该方法合理、简便、有效,数据结果可以进一步应用到推导产品常温贮存寿命。展开更多
文摘对有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)微型显示器件进行90℃、80℃、70℃的高温贮存试验,获得产品的失效数据。基于威布尔分布模型,采用最小二乘法进行参数估计,对失效数据分析,获得OLED微型显示器件失效分布函数。应用经典可靠性理论,计算产品在90℃、80℃、70℃的特征寿命、可靠寿命及平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure,MTBF)。采用Arrhenius模型,依据90℃、80℃、70℃的贮存特征寿命,获得常温下产品的贮存特征寿命。分析结果表明,该方法合理、简便、有效,数据结果可以进一步应用到推导产品常温贮存寿命。