高密度、阵列式的表面肌电技术对脑性瘫痪的侧弯反射检测研究

目的:侧弯反射是脑性瘫痪儿童神经行为检测的一个重要指标,其阳性率与临床医生的经验有关。缺乏科学,简单的监测手段。方法:本研究采用阵列式高密度的表面肌电技术,对24例侧弯反射阳性的脑性瘫痪儿童,30名侧弯反射阴性的正常儿童(经两名副主任以上医师独立鉴定)进行侧弯反射测定,探讨其临床应用的价值。结果:阳性组24例脑性瘫痪儿童的侧弯反射的强度MMAV(侧弯反射阳性检测的量化指标)为(48.9±17.4)mV,阴性组MMAV为(3.1±1.2)mV,两组差别有统计学意义(t=11.750,P<0.01)。结论:采用表面肌电检测技术测试侧弯反射,不仅可以定性,而且可以定量,值得临床推广应用。