PCI9030在基于PCI总线X光谱数据采集卡中的应用

工业X-CT(X-ray Computed Tomography)即工业X射线层析成像技术,既是一种精密的测试设备,也是一种先进的无损检测技术,在航空、航天、军工、机械、电子、石油及地质等部门中有着广泛的用途.在工业X-CT系统中,因为X射线的能量是一个连续谱线,故X射线与被测物作用后将产生"能谱硬化"(Beam-hrdening)现象,这对CT图像质量将造成不良的影响,必须进行硬化校正.X光谱仪即是为此而研制的.论文在分析比较X光谱仪数据采集卡及系统的基础上,研制了一种基于PCI总线的X光谱数据采集卡,并就PCI数据采集卡设计中采用目标接口芯片PCI9030时,如何对本地总线及挂接的设备进行硬件设计以及如何设置几个重要的寄存器等进行了阐述,获得了一些进展.

X射线阵列探测器SSPA用的数据采集电路研究

研制了一种用于 X射线探测的阵列探测器 SSPA器件 ,进而研究了适用于该器件的数据采集电路。设计试验了此阵列探测器及其数据采集电路应用于 X射线计算机层析成像 (即 X- CT)的可行性。初步试验结果表明 :该 X射线的探测方法是可行的 ,这为工业 X- CT无损检测技术中实现对 X射线高分辨、高效率、低成本的探测与测量创造了条件。

PCI接口芯片在X光谱测量系统中的设计与实现

在X光谱探测中,采用PCI数据总线作为传输通道能够有效实现数据采集的高速实时性.论文介绍了PLXtech公司的PCI总线目标接口芯片PCI9030的功能、特点,尔后对利用PCI9030接口芯片进行X光谱测量系统中高速数据采集卡的硬件和软件设计进行了详细阐述,并利用所研制成的测量系统,得到了实测的X光谱谱线,达到了预期的应用研究目标.

一种高精度、大量程时间间隔计数器的设计

时间间隔测量方法有多种,如计数法、游标法、模拟内插法、延迟线内插法、时间电压变换法等。通过对这几种测量方法的分析比较,提出了一种大量程、高精度的时间间隔测量方法,并从实现原理和设计方法进行了阐述。该方法已成功应用于GPS铷钟中,对于同类时间间隔计数器设计具有借鉴意义。

铯束管测试仪研制

主要介绍了北京无线电计量测试研究所研制的铯束管测试仪整机工作原理、关键技术研究及与进口仪器测量对比实验结果。这项工作在铯束管测试方面做出了新的尝试,取得了比较满意的结果。