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ULSI中的铜互连线RC延迟
被引量:
3
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作者
轩久霞
卢振钧
李志国
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第3期33-37,共5页
随着ULSI向深亚微米特征尺寸发展,互连引线成为ULSI向更高性能发展的主要限制因素。由互连引线引起的串扰噪音及RC延迟限制了ULSI的频率性能的提高,同时考虑到电迁移和功率损耗,人们开始寻找新的互连材料;低电阻率的铜互连材料和低介电...
随着ULSI向深亚微米特征尺寸发展,互连引线成为ULSI向更高性能发展的主要限制因素。由互连引线引起的串扰噪音及RC延迟限制了ULSI的频率性能的提高,同时考虑到电迁移和功率损耗,人们开始寻找新的互连材料;低电阻率的铜互连材料和低介电常数介质的结合可以有效地改善互连线的性能。主要讨论了互连延迟的重要性以及改善和计算延迟的方法。
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关键词
铜互连线
电容
低介电常数
可靠性
RC延迟
ULSI
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职称材料
题名
ULSI中的铜互连线RC延迟
被引量:
3
1
作者
轩久霞
卢振钧
李志国
机构
北京工业大学电子信息与控制学院
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第3期33-37,共5页
基金
国家自然科学基金(69936020)
文摘
随着ULSI向深亚微米特征尺寸发展,互连引线成为ULSI向更高性能发展的主要限制因素。由互连引线引起的串扰噪音及RC延迟限制了ULSI的频率性能的提高,同时考虑到电迁移和功率损耗,人们开始寻找新的互连材料;低电阻率的铜互连材料和低介电常数介质的结合可以有效地改善互连线的性能。主要讨论了互连延迟的重要性以及改善和计算延迟的方法。
关键词
铜互连线
电容
低介电常数
可靠性
RC延迟
ULSI
Keywords
copper interconnect
capacitance
low - permittivity dielectrics
reliability
RC delay
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
ULSI中的铜互连线RC延迟
轩久霞
卢振钧
李志国
《电子产品可靠性与环境试验》
2003
3
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