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局放仪脉冲极性响应不对称误差测评方法研究
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作者 邓先申 索春光 +3 位作者 张文斌 李天文 谭向宇 王科 《新技术新工艺》 2017年第11期36-39,共4页
脉冲极性响应不对称误差是表征局放仪性能的重要指标之一。为了更准确地测评局放仪,在根据脉冲电流法的局放仪原理和相关局放仪校准规范基础上,提出了在局放仪带宽内产生与局部放电频谱接近的电压脉冲信号,避开耦合装置直接注入局放仪... 脉冲极性响应不对称误差是表征局放仪性能的重要指标之一。为了更准确地测评局放仪,在根据脉冲电流法的局放仪原理和相关局放仪校准规范基础上,提出了在局放仪带宽内产生与局部放电频谱接近的电压脉冲信号,避开耦合装置直接注入局放仪的方法,并通过PRPD谱图分别统计正负脉冲极性响应的平均放电量,对局放仪的脉冲极性响应不对称误差进行测评。以PDCheck局放仪为例,详细介绍了测评的过程及结果分析。试验结果表明,PDCheck局放仪的脉冲极性响应不对称误差最大值为3.83%,小于标准中的±10%,满足局放仪校准规范,并验证了该方法的准确性和有效性。 展开更多
关键词 脉冲极性响应不对称误差 局部放电测量仪 直接脉冲电流注入法 PRPD谱图
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线阵CCD精密尺寸测量系统的设计与研究 被引量:1
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作者 谭海军 邓先申 +1 位作者 田芃 周峰 《电子技术与软件工程》 2015年第11期148-150,共3页
本文设计并制作一种非接触式的光学精密尺寸测量系统。系统采用TCD1501D线阵CCD作为测量传感器,使用FPGA产生相应时序驱动CCD,STM32控制器通过数据采集和处理来实现高精度的实时测量。系统测试表明该CCD测量系统能实现微米到厘米量级尺... 本文设计并制作一种非接触式的光学精密尺寸测量系统。系统采用TCD1501D线阵CCD作为测量传感器,使用FPGA产生相应时序驱动CCD,STM32控制器通过数据采集和处理来实现高精度的实时测量。系统测试表明该CCD测量系统能实现微米到厘米量级尺寸的测量,测量的精度达微米级。该系统可以广泛用于各类较小尺寸的精密测量。 展开更多
关键词 尺寸测量 线阵CCD STM32
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