“日盲”紫外ICCD的信噪比

分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点。考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系统,引入单光电子冲激响应到SBUV-ICCD信噪比计算中,利用傅里叶变换原理推导出其信噪比模型。模型采用了二维高斯函数拟合SBUV-ICCD单光电子冲激响应的方法,较传统间接分析的方法更为简单适用。分析了增益对SBUV-ICCD信噪比的影响,测量了辐照度在10.3～810.6pW/cm2内变化时SBUV-ICCD的信噪比。实验结果表明,该模型的标准差为0.78,可用于SBUV-ICCD的性能分析。