Fe纳米线的制备与表征

采用恒电位阴极还原法,在阳极氧化铝模板上进行电化学沉积,制备了直径与模板孔径一致的Fe纳米线.通过循环伏安法研究Fe在Ag基底上的电沉积规律,以确定还原电位的范围,利用X射线衍射方法表征各沉积电位下得到的Fe纳米薄膜的晶体结构,以X射线荧光光谱分析确定在各电位下沉积300s后Fe电沉积量的变化规律.结果表明,在-1.05^-1.20 V范围内,电位越高,Fe在Ag基底上的沉积量越多.以扫描电子显微镜观察-1.20 V、300 s内在阳极氧化铝模板上点沉积Fe获得的纳米线的形貌,发现所制备的Fe纳米线具有较大长径比.利用振动样品磁强计对样品进行磁学特性测试显示,外加磁场与纳米线线轴平行时比两者垂直时具有更强的矫顽力和更大的剩磁比,表明纳米线阵列具有明显的磁各向异性.