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PFWM120的设计与可靠性研究
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作者 王世明 吴又生 邓柱兵 《光通信研究》 北大核心 1999年第5期50-54,共5页
本文介绍为朗讯OTUL- 140 系统设计的一种高性能、高可靠性的140 Mbit/s PIN- FET组件的设计以及对组件进行严格的可靠性试验。试验表明,该组件具有无需调试,灵敏度好,性能稳定,适于量产等优点。
关键词 PIN-FET组件 可靠性 PFWM120 设计 场效应器件
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