基于Labview的ADC综合性能测试系统

近年来,在电路设计领域高性能的模数转换器(ADC)一直是研究热点。相应的ADC测试评价技术也同样一直受到重点关注。阐述了ADC的参数及其测试的原理和方法,并基于Labview软件和数据采集卡构建了ADC的软硬件测试平台,实现了低成本、高可靠性的高速高精度ADC计算机辅助测试的测试系统。最后,使用该测试系统对TI公司的ADS805进行了测试,并给出了测试结果。

用于低噪声CMOS图像传感器的流水线ADC设计及其成像验证

在对低噪声CMOS图像传感器的研究中,除需关注其噪声外,目前数字化也是它的一个重要的研究和设计方向,设计了一种可用于低噪声CMOS图像传感器的12 bit,10 Msps的流水线型ADC,并基于0.5μm标准CMOS工艺进行了流片。最后,通过在PCB测试版上用本文设计的ADC实现了模拟输出的低噪声CMOS图像传感器的模数转换,并基于自主开发的成像测试系统进行了成像验证,结果表明,成像画面清晰,该ADC可作为低噪声CMOS图像传感器的芯片级模数转换器应用。

一种用于高速激光回波信号处理的专用CMOS集成电路芯片

提出了一种用于激光回波信号处理的高速CMOS集成电路设计方案。该芯片主要采用了RGC跨阻放大器、MOS_L、改进型Cherry-Hooper宽带放大器级联等结构,组成了脉冲激光测距的接收通道。仿真得到了90 MHz带宽,134 dB.Ω增益的整体性能。在0.5μm CMOS标准工艺线上流片后,封装并进行了测试。测试结果表明该电路具有2.4 mV的均方根噪声和对短脉冲具有6 ns的响应延时。

有源像素CMOS图像传感器非均匀性研究

有源像素CMOS图像传感器在许多领域有着重要的应用,但其非均匀性问题影响着成像质量,非均匀性控制一直是器件研发过程中需要重点考虑的问题之一。在分析CMOS图像传感器的工作原理的基础上,对非均匀性的来源及其表现形式进行了深入的分析,提出了3套不同层次的均匀性优化设计方案,分别从像素级、列级、芯片级三个不同的角度来评价非均匀性问题。研究结果对于设计高均匀性的图像传感器具有指导意义。

红外探测器寿命试验自动化真空系统设计

针对目前红外组件寿命试验过程中测试参数时必须更换真空腔的问题,设计了一种用于红外组件寿命试验的自动化、多工位真空系统。提出了以杜瓦为试验中心的总体方案,实现寿命试验过程中原位参数测试。通过真空理论计算和计算机3D建模,进行了系统结构设计;采用可编程逻辑控制器(PLC)为控制核心,通过自动控制抽气回路阀门和泵的启停,实现对寿命试验真空环境的实时监控,以及对真空失效进行报警保护。在完成系统的设计后,进行了试验验证。试验结果表明,所设计的真空系统功能可正常运行,系统在加液氮的情况下,空载真空压强可达3.67×10-6 Pa,满足红外组件寿命试验必需的真空环境要求。

红外组件阻值采集系统设计

针对红外组件寿命试验过程中阻值测试困难的问题,设计一种可用于红外探测器组件寿命试验过程的探测器阻值自动采集和分析系统。该系统基于Lab VIEW平台,采用Fluke 2620A作为阻值数据采集器,结合自行设计的Lab VIEW数据采集分析软件,实现数据采集、实时显示、数据分析、数据存储等功能。最后进行了阻值测试实验,实验结果表明:测试系统的测试速度快,数据分析直观高效,测量值波动小于0.15Ω,满足红外组件阻值测量精度≤0.4Ω的要求。

一种多通道调相回波信号模拟技术

介绍了一种适用于PD引信的多通道调相回波信号模拟技术及应用系统。针对引信比幅比相复合探测的特点,通过对引信载频与DDS产生的带有相位信息的多路中频信号进行上下变频实现目标回波的多普勒频率和相位特性模拟。通过发射检波同步处理方法和视频延时实现目标回波的距离延时模拟。通过四个独立目标回波输出通道实现比幅比相的模拟,模拟系统用于引信目标方位识别的功能测试。

CMOS有源像素传感器像素级噪声的分析与抑制

像素级的噪声是CMOS图像传感器的主要噪声源之一。针对CMOS有源像素传感器3T结构像素级的噪声问题,分析了3种抑制像素级噪声的方法。分析结果表明,复位晶体管的软复位噪声要小于硬复位噪声的2倍,PMOS管的1/f噪声低于NMOS管的1/f噪声,同时1/f噪声会随着栅面积的减小而增大。通过对像素的噪声分析,完成了3种像素级的集成电路的设计仿真,并采用了0.5μm标准CMOS工艺进行流片制作。测试表明,噪声的相对变化与分析结果吻合。