基于V93000 ATE性能测试方法的实现

针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究,分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型(内部模块性能测试和接口数据流性能测试)。基于这两种测试类型,以“Date Rate”性能测试为例,分别进行了测试方法的实现。内部模块性能测试的实现,通过指示信号输出性能测试开始和结束波形,采用逆向思维通过“ERCT”获取代表性能运行时间的“Fail Cycle”数,然后对性能时间进行计算来获得性能测试值。接口数据流性能测试的实现,主要通过“Digital Capture”捕获接口数据,然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值。上述性能测试方法及原理,在ATE测试应用中具有通用性,对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用。

基于V93K测试仪LDO修调测试方法研究与实现

低压差线性稳压器(LDO:Low Drop Output),作为常用的一种线性降压型的电源管理模块广泛应用于集成电路设计中,但由于各种因素影响,实际输出电压值与设计值存在一定的随机偏差。针对LDO输出随机偏差,业界普遍采用通过配置LDO修调寄存器来调整分压电阻阻值,从而调整输出电压到规定值。本文介绍了基于93K测试仪对某款器件的LDO模块修调方法。

VCD仿真文件到93000 ATE测试文件转换分析

VCD仿真文件转为ATE测试文件,是ATE测试过程中的重要环节。本文介绍了VCD到93000 ATE测试文件的转换分析,文中采用主流转换方法,由VCD转为STIL,再由STIL转为ATE测试文件,对转换过程各重要环节进行深入分析,帮助ATE测试工程师对转换的理解,使转换后的测试文件更能满足93000 ATE测试要求。

基于V93000 ATE的随机数采集检测方法

随机数器件是一种广泛应用于信息安全领域的重要半导体器件,随机数测试是判定随机数器件质量好坏的重要手段,随机数测试通常是基于板级的随机数采集和检测。本文实现了一种基于V93000测试仪的随机数采集检测方法,文中对ATE的随机数采集检测原理和具体方法进行了介绍,同时还提供了ATE随机数采集检测实例,进一步介绍该了方法的实现过程。

芯片ATE连通性系统检测法的研究与实现

随着芯片集成度的增加及芯片管脚的增多,芯片封装及测试系统的复杂性也随之提升,传统单一的通断检测已经不能快速定位芯片封装键合和测试系统连接性等故障。为解决上述问题,基于通用的V93000 ATE测试平台,研究和实现了一种ATE连通性系统检测法,该方法包括了三个步骤:PPMU参数测试、Walking Z功能测试和Power-Short电源测试,通过此种系统的连通性检测方法,实现对被测芯片Opens-Shorts故障和测试系统本身故障的快速定位及问题分析。

基于93000ATE的高速信号眼图测试的研究与实现

眼图测试是高速信号测试的一种重要方式,能有效的衡量信号质量,通常应用于串行数字信号或者高速信号的测试和验证场合。目前业界普遍采用示波器结合专用探头来进行眼图测试,不适用于芯片批量筛选,本文基于Advantest93000 ATE,介绍了如何在一款SOC芯片筛选过程中实现高速信号的眼图测试。

一种晶圆MAP图自动提取及合并的方法研究

晶圆MAP是对WAFER中各个DIE的测试结果,按照每个DIE的坐标位置在图中标注出来,从而形成一张测试MAP。随着芯片设计的发展,不少复杂的SOC芯片设计厂家会购买成熟的IP,而相应的测试也会分开进行,在封装前需要把不同地方的测试MAP合并起来,形成最终的封装MAP图。本文介绍了如何利用EXCEL的宏功能实现测试数据的自动提取及合并,在大大提高ATE测试工程师处理晶圆MAP效率的同时,避免了人为因素介入引起的出错概率。