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边界扫描与电路板测试技术 被引量:7
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作者 方葛丰 布乃红 +1 位作者 宋斌 邹芳宁 《电子设计应用》 2003年第4期44-46,共3页
本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。
关键词 边界扫描 电路板 测试 集成电路 JTAG 可测试性设计
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基于专用芯片的电路模块嵌入式测试信息获取技术
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作者 李智 刘明军 邹芳宁 《电子世界》 2016年第3期151-157,共7页
本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题。文... 本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题。文中介绍了数字、模拟、射频微波电路嵌入式测试专用芯片的设计思路及利用其进行嵌入式测试硬件与软件设计方法,最后对嵌入式测试设计进行了验证。 展开更多
关键词 嵌入式测试 PHM BIT 信息获取 边界扫描 测试性设计
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