W波段对脊鳍线过渡的波导微带转换设计

本文研究了 W 波段对脊鳍线过渡的波导—微带转换技术,对余弦平方渐变和 Spline 曲线渐变两种形式的对脊鳍线过渡进行了分析和仿真,并设计制作了 Spline 曲线形式的波导-对脊鳍线-微带转换,结构为背靠背。在整个 W 波段,单个过渡结构插入损耗小于1.3dB,回波损耗小于-13dB,在（90～99）GHz 内,单个过渡结构插入损耗小于1.0dB,回波损耗小于-20dB,实现了很好的宽带过渡性能。

微波低噪声封装器件噪声参数测量技术

相对于噪声系数,噪声参数更加全面地反映了半导体器件噪声特性。介绍了微波低噪声器件噪声参数产生机理及测量原理,分析了噪声参数测量方法。针对低噪声封装器件的特点,自制了测试夹具以及表征测试夹具的TRL校准件,优选Agilent公司带有噪声选件的矢量网络分析仪、噪声源和Maury公司的阻抗调配器组建了测量系统。选用NEC公司的NE32584C低噪声器件作为被测对象,开展了10～15 GHz频段的噪声参数测量工作。为了验证测量系统和数据准确性,设计制作了无源标准件。验证数据的一致性表明获得了可靠、令人满意的噪声参数测试结果。

微波器件噪声参数的测量方法

作为微波低噪声器件研制和应用的一项关键技术,噪声参数的测量工作引起行业的广泛关注。论述了噪声参数测量原理,研究了测量系统校准方法,分析了噪声源的反射系数、噪声温度,阻抗调配器的反射系数、S参数、增益,接收机的反射系数、噪声功率等20余项物理量对噪声参数测量的影响,对比了直接冷源法和简化冷源法在接收机传输增益测量中的优缺点,提出了改进型冷源法。最后给出了噪声参数测量不确定度主要影响量的归类分析,为下一步开展噪声参数不确定度评定工作奠定了基础。

在片S参数测量系统校准技术研究

在片S参数测量系统在半导体行业裸芯片测量中得到了广泛的应用,但是国内在片S参数测量系统无法有效溯源的现状影响了高端裸芯片产品的研发进度。为了建立该类系统的校准能力,本文研制了微带形式的在片校准件、在片传递标准件和在片检验件三类标准样片,搭建了高准确度的在片S参数传递标准件定标系统,通过HFSS仿真方法使得在片S参数溯源至几何量基准,最终建立了在片S参数测量系统中传输参数的计量校准能力,为最终完成在片S参数测量系统校准奠定了技术基础。

自动阻抗调配器的校准技术探讨

自动阻抗调配器在微电子行业应用越来越广泛,但是目前国内还没有计量技术机构开展该类仪器的计量校准工作,本文介绍了其机械结构、工作原理,设计了控制模型,组建了校准系统,实现了主要参数矢量重复性、驻波比和插入损耗的校准工作。

单片电路晶体管模型参数提取专用TRL校准件

为了满足GaAs微波单片晶体管模型参数精确提取需求,论文开展了在GaAs衬底上制作专用TRL校准件的研究工作,该专用校准件在设计过程中,综合考虑了介质材料、测量端口探针至微带线过渡等要素,使校准后在片S参数测量的参考平面更加接近晶体管管芯,从而获得了微波单片晶体管真正管芯模型参数。为了对校准效果进行验证,制作了在片无源检验件,通过测量结果与电磁场仿真数值的对比,证实了该专用校准件满足模型参数提取的测量要求。

低噪声封装器件噪声参数不确定度评定

本文开展了基于Maury公司的Tuner和Agilent公司PNA-X矢量网络分析仪组建的超快噪声参数测量系统的不确定度评定研究工作,通过分析测量系统的输入、输出数据,独立开发了不确定度评定的测量模型,设计了满足国际标准ISO/IEC98-3要求的不确定度评定方法,编制了不确定度仿真软件,首次报道了四个噪声参数的不确定度数据,最佳估计值和95%概率下得包含区间。

高精度噪声系数测量系统整体校准方法研究

利用＂源端失配误差修正的冷噪声测量技术＂的高精度噪声系数测量系统问世以来,得到了噪声测试工程师的广泛认可,其主要特点是在系统自校准和测量两个环节中,都使用了一个阻抗调配器呈现不同（4~7个）源阻抗状态,从而降低甚至消除测量过程中的源端失配误差,提高了噪声系数测量精度。这种崭新的测量系统给计量工作带来了困扰,主要原因是测量系统组成更加复杂,测量技术考虑失配因素,测量模型技术保密等。论文提出一种全新的整体校准方案,建立了校准模型,通过实际案例分析证实基本解决了该校准难题。

脉冲调制对连续波载波单边带相位噪声的影响

论述了脉冲调制载波信号的基本概念 ,通过数学运算 ,从频域。

三毫米单片集成电路噪声系数测量技术

采用双平衡混频器和本振信号源,把3 mm频段的噪声信号下变频至噪声系数分析仪的频率范围内,配探针台作在片噪声系数测量。为了减小本振源相位噪声和系统元件损耗的影响,在混频器前加低噪声放大器,使系统更加稳定,重复性好、准确度高。该系统具有频率范围宽可扩展至75～110 GHz、结构简单、成本低的特点。