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CuPc/ITO结构的表面和界面电子态的XPS研究
被引量:
6
1
作者
郜朝阳
张旭
+2 位作者
郑代顺
何锡源
张福甲
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期502-506,共5页
覆盖有Indium tin oxide(ITO)膜的透明导电玻璃广泛地用作有机发光器件 (OLEDs)的空穴注入电极 ,但是ITO膜的功函数通常与空穴传输材料的最高被占据分子轨道 (HOMO)不匹配。铜酞菁 (CuPc)作为缓冲层可以提高空穴从ITO向空穴传输材料的...
覆盖有Indium tin oxide(ITO)膜的透明导电玻璃广泛地用作有机发光器件 (OLEDs)的空穴注入电极 ,但是ITO膜的功函数通常与空穴传输材料的最高被占据分子轨道 (HOMO)不匹配。铜酞菁 (CuPc)作为缓冲层可以提高空穴从ITO向空穴传输材料的注入效率。对CuPc ITO样品的XPS表面分析表明 ,在CuPc分子中 ,铜原子显 +2价 ,通过配位键和氮原子相互作用。CuPc分子中有两类碳原子 :8个C原子与 2个N原子成键 ;其余 2 4个C原子具有芳香烃性质。N原子也处在两种化学环境中 :有 4个N原子只与 2个C原子形成CNC键 ;另外 4个N原子不仅与 2个C原子成键 ,还通过配位键与Cu原子成键。用氩离子束对样品表面进行了溅射剥蚀 ,当溅射时间分别为 2 ,5 ,10min时进行XPS采谱分析 ,结果表明 ,随着氩离子束溅射时间增长 ,C 1s,N 1s峰变弱 ,Cu 2p ,O 1s,In 3d,Sn 3d峰增强 ,C 1s,N 1s,O 1s,In 3d和Sn 3d峰都向高束缚能或低束缚能方向移动 ,但它们的情况却不相同。
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关键词
界面电子态
XPS
CuPc/ITO
界面分析
导电玻璃
有机发光器件
空穴
电极
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职称材料
有机/无机光电探测器的AFM和XPS分析
被引量:
10
2
作者
何锡源
张旭
+2 位作者
郑代顺
郜朝阳
张福甲
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期336-341,共6页
采用真空蒸发沉积,在室温下制备了PTCDA/p-Si有机/无机异质结样品。对其表面用原子力显微镜(AFM)研究表明,PTCDA薄膜具有岛状形态结构。经X光电子能谱(XPS)分析表明,在PTCDA分子中,C原子有两种束缚能态,其结合能力分别为285.3eV和288.7e...
采用真空蒸发沉积,在室温下制备了PTCDA/p-Si有机/无机异质结样品。对其表面用原子力显微镜(AFM)研究表明,PTCDA薄膜具有岛状形态结构。经X光电子能谱(XPS)分析表明,在PTCDA分子中,C原子有两种束缚能态,其结合能力分别为285.3eV和288.7eV;O原子与C原子相邻,一些O原子通过双键与C原子相结合,另外的O原子则通过单键与2个C原子相结合。经Ar+束溅射研究界面电子状态表明,随溅射时间增加,C1s和O1s峰逐渐减弱,而Si2p和Si2s峰渐渐增强。C1s和Si2p谱峰随着溅射时间的增加而逐渐向低束缚能力方向移动。由于荷电效应和碳硅氧烷(C-Si-O)及SiO2的存在,O1s谱峰随溅射时间的增加先向高束缚能方向移动,然后向低束缚能方向移动。
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关键词
光电探测器
PTCDA/P-SI
原子力显微镜
AFM
X光电子能谱
XPS
原文传递
题名
CuPc/ITO结构的表面和界面电子态的XPS研究
被引量:
6
1
作者
郜朝阳
张旭
郑代顺
何锡源
张福甲
机构
兰州大学物理科学与技术学院
甘肃联合大学数学与信息学院
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期502-506,共5页
基金
国家自然科学基金 (No 60 0 760 2 3)资助项目
文摘
覆盖有Indium tin oxide(ITO)膜的透明导电玻璃广泛地用作有机发光器件 (OLEDs)的空穴注入电极 ,但是ITO膜的功函数通常与空穴传输材料的最高被占据分子轨道 (HOMO)不匹配。铜酞菁 (CuPc)作为缓冲层可以提高空穴从ITO向空穴传输材料的注入效率。对CuPc ITO样品的XPS表面分析表明 ,在CuPc分子中 ,铜原子显 +2价 ,通过配位键和氮原子相互作用。CuPc分子中有两类碳原子 :8个C原子与 2个N原子成键 ;其余 2 4个C原子具有芳香烃性质。N原子也处在两种化学环境中 :有 4个N原子只与 2个C原子形成CNC键 ;另外 4个N原子不仅与 2个C原子成键 ,还通过配位键与Cu原子成键。用氩离子束对样品表面进行了溅射剥蚀 ,当溅射时间分别为 2 ,5 ,10min时进行XPS采谱分析 ,结果表明 ,随着氩离子束溅射时间增长 ,C 1s,N 1s峰变弱 ,Cu 2p ,O 1s,In 3d,Sn 3d峰增强 ,C 1s,N 1s,O 1s,In 3d和Sn 3d峰都向高束缚能或低束缚能方向移动 ,但它们的情况却不相同。
关键词
界面电子态
XPS
CuPc/ITO
界面分析
导电玻璃
有机发光器件
空穴
电极
Keywords
CuPc/ITO
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
surface and interface analysis
分类号
TN383 [电子电信—物理电子学]
TQ171.736 [化学工程—玻璃工业]
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职称材料
题名
有机/无机光电探测器的AFM和XPS分析
被引量:
10
2
作者
何锡源
张旭
郑代顺
郜朝阳
张福甲
机构
兰州大学物理科学与技术学院
甘肃联合大学数学与信息学院
出处
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期336-341,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(60076023)
文摘
采用真空蒸发沉积,在室温下制备了PTCDA/p-Si有机/无机异质结样品。对其表面用原子力显微镜(AFM)研究表明,PTCDA薄膜具有岛状形态结构。经X光电子能谱(XPS)分析表明,在PTCDA分子中,C原子有两种束缚能态,其结合能力分别为285.3eV和288.7eV;O原子与C原子相邻,一些O原子通过双键与C原子相结合,另外的O原子则通过单键与2个C原子相结合。经Ar+束溅射研究界面电子状态表明,随溅射时间增加,C1s和O1s峰逐渐减弱,而Si2p和Si2s峰渐渐增强。C1s和Si2p谱峰随着溅射时间的增加而逐渐向低束缚能力方向移动。由于荷电效应和碳硅氧烷(C-Si-O)及SiO2的存在,O1s谱峰随溅射时间的增加先向高束缚能方向移动,然后向低束缚能方向移动。
关键词
光电探测器
PTCDA/P-SI
原子力显微镜
AFM
X光电子能谱
XPS
Keywords
photoelectric detector
PTCDA/p-Si
AFM
XPS
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
O621.15 [理学—有机化学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
CuPc/ITO结构的表面和界面电子态的XPS研究
郜朝阳
张旭
郑代顺
何锡源
张福甲
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
6
下载PDF
职称材料
2
有机/无机光电探测器的AFM和XPS分析
何锡源
张旭
郑代顺
郜朝阳
张福甲
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
10
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