Dy-Ho-Er-Y-Tm稀土分离流程液的X荧光光谱点滴滤纸片薄样测定

采用 X 荧光光谱点滴滤纸片薄样法直接测定江西龙南低钇稀土全分离工艺扩大试验中的萃取液分组组分 Dy-Ho-Er-Y-Tm。方法快速、准确、制样简便,避免了粉末氧化物制样的繁琐化学操作和磨样压片等手续,大大缩短了分析周期,有力地促进了工艺研究的进程。本法分析范围宽,低含量的 Tm_2O_3,其测定下限为0.05%(绝对量为几微克),高含量的 Er_2O_3可达60%。方法精密度好,其变异系数除低含量的 Tm_2O_3为1.2%外,其余均优于0.8%。

白银制品中银含量的能量色散X射线荧光光谱无损检测

用放射性同位素源激发小型能量色散Ｘ 射线荧光光谱仪对银饰品、餐具、摆件中的银含量进行无损快速定量测定， 在银含量为１０－０ ％ ～９９－９ ％ 的范围内， 测定精度和准确度均能满足实际检测误差要求。测定结果与大型的波长色散型Ｘ 射线荧光光谱仪一致。

不锈钢的X射线荧光光谱分析

用高性能飞利浦PW2400X射线荧光光谱仪 ,测定不锈钢中Al、Si、P、S、Ti、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、As、Mo、Sn、W、Fe15个元素。给出了各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数。方法准确、灵敏、稳定性好、速度快。

X-射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑中的微量元素

报道了Ｘ射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑样品微量元素的新方法，校正了样品中元素间的基体效应影响和校正了钢屑样品的不同颗粒结构，不同几何形态及不同表面状态的影响，使钢屑样品可不经处理直接测定，操作简便。

大洋多金属结核中27个元素的快速分析

利用飞利浦PW2400X射线荧光光谱仪测定了多金属结核中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、Cl、K2O、CaO、TiO2、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Rb、Sb、Y、Zr、Mo、Ba、La、Ce和Pb27种组分。采用粉末直接压片法制样 ,理论α系数 (对分析线波长大于铁吸收限的元素 )和以RhKβ1 康普顿峰为背景的峰/背比法 (对于其分析线波长小于铁吸收限的元素 )校正元素间的吸收 -增强效应 ,用国际锰结核标准样品建立校准方程 (同时包括谱线重叠校正项 ) ,方法经标准物质检验 ,具有较好准确度 ,能满足大洋多金属结核资源调查、评价要求。对主、次和绝大多数痕量组分 ,方法的相对标准偏差 (RSD ,n=10)小于5 %。与其他多元素分析方法相比 ,制样简单快速 ,而且是一种“环境友好”的“绿色”分析方法。

X射线荧光光谱法在稀土元素分析中的应用

本文研究了Ｘ射线荧光光谱在混合稀土氧化物和高纯稀土氧化物分析中的应用，并探讨了在常量分析中影响分析准确度和精密度的主要因素：样品及标样制备，基体效应校正方法和在痕量分析中降低检测限的方法：选择最佳测量条件，降低背景，与分离富集手段相结合，取得满意的结果。

银饰品标准样品的研制

本文叙述了银饰品标准样品的研制。该标样表面光滑、成分均匀、无缩孔。成分为Ａｇ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｎｉ，适用于银饰品的无损检测。

X荧光滤纸片薄样法测定铅锌矿选矿流程样中Pb、Zn、Cu、Fe

本法将Ｘ荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组份的铅锌矿选矿样品中Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ的分析，样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上，标准样品可直接用纯试剂人工配制，用同样制成滤纸片薄样标准系列，因薄样测定可不作基体效应校正，标样使用数量少，又无需化学法标定，故方法实验周期短，样品测定手续简便快速，元素分析含量适应范围宽，可适用于组分复杂，元素含量变化范围大的试样分析。样品分析结果与化学法相符，方法准确度与精密度均能满足选矿样品分析的要求。

顺序式X射线荧光光谱仪调研综述

对新型波长色散单道顺序式Ｘ射线荧光光谱仪的性能作了比较，包括ＡＲＬ９４００、ＰＷ２４００／２４０４、ＳＲＳ３４００、ＲＩＸ２１００／３００１和ＸＲＦ１７００等荧光光谱仪主要部件的技术指标、计算机硬件配置、定性和定量分析软件及无标样分析软件等。还比较了新型号仪器的特点和报价，征询了用户对仪器性能的评价和售后维修服务的印象。