基于虚拟仪器的半导体特性参数测试仪的设计与研究

本文利用虚拟仪器技术进行了二极管,三极管伏安特性测试系统的研究设计。硬件平台选用NI公司的PCI-6251数据采集卡,实现数据的产生与采集;软件利用NI公司的LabVIEW 8.2开发平台完成。整个测试系统能方便的完成二极管,三极管的特性参数测试。