用失效捕捉法测试AC参数

本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取"通过/失效"结果,可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量,on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试,在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。

FPGA器件在高速测试系统上的测试方法

FPGA是可由用户配置的高密度ASIC芯片,本文以Xilinx公司的RAM型FPFA为例,介绍了一种用高速测试系统实现GPGA器件测试的方法.阐述了如何用测试仪对FPGA进行在线配置、功能测试和参数测试.

内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩方法

本文分析了内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩的各种方法和结构,并提出了适用于层次化自测试结构的BIST测试产生和响应压缩方法。

J750到BC3192测试程序转换方法

由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。

微处理器(MP)保护功能的一种自测试方法

本文介绍了MP的保护功能及其测试,提出了一种利用微机资源进行故障仿真的自测试方法,该方法简便、规整、直观,不需要借助外部的自动测试设备,并且已经在386、486和586微机上得以实现,效果良好。

VXI数模混合信号集成电路测试系统

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。

FLASH存储器的测试方法

随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高。本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析、研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合。测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。

DSP功能测试方法研究

随着数字信号处理器(DSP)性能和集成度迅速地提高,DSP产品得到了日趋广泛的应用。文章首先介绍了DSP的基本结构,其次详细分析了DSP功能测试的方法,特别是研究了由测试系统模拟外部程序存储器加载程序的并行测试算法,最后讨论了为使用相同指令集的DSP自动生成测试图形的算法。上述算法具有直观、编程灵活、开发周期短的特点。

基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究

为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本.验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化。测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构.提升了测试数据的可分析性。

录像机管理与维护

录像机具有复杂的结构，机械系统精密度高，涉及到电子、机械、电磁、光学和微处理机等，不论任何部分的故障都会导致机器的正常使用，降低记录和重放的效果。加强录像机的管理与维护，保证工作的顺利进行，不但提高利用率，而且还能延长使用寿命。

一种基于自动测试设备的可编程逻辑器件的编程开发方法

本文讨论了具有边界扫描接口的可编程逻辑器件在线编程模型建立的途径,并以BC3192V50高速数模混合测试系统为平台,介绍了ALTERA公司的EPM7512在线编程以及测试过程。本文论述的在线模型建立方法适用于一切通过边界扫描链进行配置的大规模集成电路,为可配置集成电路的测试提供了前提条件。该方法经BC3192集成电路测试系统使用结果表明是有效的。

选择合适的测试平台——跨平台的可缩放的体系结构统一了测试策略

由于工程师们面临更大的测试挑战与预算的压缩,测试平台的选择变得更加重要了。具有竞争力的企业必须在技术方面投资,以便以更低的成本、更快地生产更好的产品。

IEEE 1149.1b边界扫描器件描述语言

1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 VHDL)的一个子语言。遵从两条原则:一是对用户友好;二是对计算机来讲简单、无二义性。

多芯片模块(MCM)自测试提供真速测试方法

多芯片模块(MCM)测试是一个复杂的问题,因此开发一种正确的测试方法很重要。这需要弄清楚许多系统设计问题:费用、设计的规模、可修复性、CAD工具的可获得性、可测试性设计的层次。人们很容易在这些问题中迷失方向,但自测试提供一种解决方法。因为要把多个IC电路组装在一个小封装中是非常复杂的过程,所以多芯片模块是一种高成本的系统设计。传统的IC全功能测试仅适于比较简单的MCM。因为缺少进入这种小封装的方法,所以用板测试技术来测复杂的MCM也有困难。在很多应用中,自测试能够提供真速测试,这是由于许多MCM都包含有自测试所必须的某些处理单元。