超低膨胀陶瓷K_（2x）Ba_（1－x）Zr_4（PO_4）_6系统的X射线衍射

用高温Ｘ射线衍射方法对磷酸锆钡钾系统陶瓷材料的各向异性热膨胀作了研究．对七个组份试样的７７套高温Ｘ射线衍射图作了仔细的指标化和精密点阵常数测定．点阵常数随温度作非线性变化·对Ｋ_２ｘＢａ_１－ｘＺｒ_４（ＰＯ_４）_６的不同组份不同温度（３００～１３００Ｋ）的热膨胀系数。α_ａ、α_ｃ、 作了测定·该系统零膨胀陶瓷的组份为Ｋ_１．１６Ｂａ_０．４２Ｚｒ_４（ＰＯ_４）_６（ｘ＝０．５８）

X射线小角散射测定粒度分布的一种数据处理解析程序

本文提出了一种确定材料中微不均匀区大小分布 X 射线小角散射数据处理的解析方法。用 n 个分立的粒度分布解对应的散射强度叠加来逼近实验强度。以尝试法修正结果使误差达到最小。用铁红釉试样作为实例,对液相分离球滴粒度分布作了测定,结果表明该方法简便实用。

求解X射线定量相分析最小二乘方程组的抛弃平均法

X射线定量相分析的无标样法等一系列新方法都要求解联立方程组。经常出现的病态方程组在求解过程中误差的传递和叠加会使解得的结果误差很大,甚至得到不合理的负解。本文提出一种利用各种可能组合的最小二乘法方程组求得的解,采用抛弃平均法处理求得较精确可靠的物相定量结果的新方法。实际分析表明,该新方法简便实用,可得到理想的结果。

TREOR多晶X射线衍射图指标化程序的适用性

多晶Ｘ射线衍射图指标化的ＴＲＥＯＲ程序已被普遍采用，特别是在硅酸盐矿物等材料的晶体结构研究工作中应用很多。然而，实际上它存在着一定的缺陷，有可能得出错误的结果。本文对这一程序作了详细的检验，发现即使在理想条件下它都不适用于低对称晶系的指标化。在对程序作改进以后。

多晶材料X射线衍射无标样定量方法

Ｘ射线物相定量的结果对多晶样品的结构和织构十分敏感．一般的Ｘ射线定量方法都需要在样品中添加标样并均匀混合研磨，因而容易引起很大的误差．近年来，无标样Ｘ射线定量方法得到了很大的发展．无标样定量方法克服了一般有标样Ｘ射线定量方法需要混合研磨和手续烦复的缺点．本文总结了三类ｘ射线衍射无标样定量方法：理论参数计算法、全谱图拟合法以及联立方程法．给出了提高各种无标样法定量精度和可靠性的方法．

精确测定低对称晶系多晶材料点阵常数的X射线衍射方法

点阵常数是多晶材料的重要物理参数之一．陶瓷材料多数属非立方晶系化合物．研究低对称晶系点阵常数的测定方法和提高精度的途径对材料研究有重要的意义．本文提出了联立方程法、联立方程外推法、最小二乘法、最小二乘外推法、线对法、线对最小二乘法等六种测定方法和稳定性判别法、抛弃平均法、最小二乘判别法等三种数据处理方法及其适用条件．用本文的测定低对称晶系多晶材料点阵常数的方法可以得到较精确可靠的结果．

α—SiC晶体中的位错

用腐蚀法和X射线形貌术研究了α-SiC晶体中的位错。所用的腐蚀剂为熔融氢氧化钾。证实了尖底蚀坑与位错的一一对应关系。由于[0001]方向的螺型位错的Burgers矢量比刃型位错的Burgers矢量大得多,故可从蚀坑的深浅来判别螺型位错和刃型位错。给出了蚀坑形状和多型体晶体结构的对应关系。研究了表面生长蜷线的形态与SiC晶体中的位错及位错运动的关系。 X射线形貌图显示了α-SiC晶体中相当数量的位错处于基面C面上。生长位错从晶体“根部”成核并随着晶体生长前沿的向前推进而延伸,因而位错线的方向常常沿[101O]和[1120]方向。将腐蚀法和X射线形貌术结合起来才能全面显示α-SiC晶体中的位错。

β—SiC外延层中晶体缺陷的观察

用腐蚀法研究了β-SiC外延层中的晶体缺陷。腐蚀剂为熔融氢氧化钾。三角形尖底蚀坑对应于位错。在β-SiC中的全位错为立方晶系的73°位错和60°位错。不同堆垛方式的β-siC生长层相遇时将形成{111}交界层错,其腐蚀图象为平行于<110>方向的直线。60°位错可分解为两个1/6<112>SchockLey不全位错,并夹着一片{111}层错构成扩展位错。三个1/6<110>压杆位错与三片{111}层错可构成层错锥体。正、反堆垛的β-SiC可形成尖晶石律双晶,双晶面为(111)。腐蚀法和X射线劳厄法证实了这种双晶的存在。

单斜晶系多晶X射线衍射图指标化的一种解析法

本文提出一种比较简便且适用性强的用电子计算机进行单斜晶系化合物衍射图指标化的解析法。根据各衍射线对晶面间距倒数平方值Q之差δ值的重复数m(δ-m图)及其比例关系确定晶胞参数b。经退化步骤将各倒易阵点投影到a~*c~*平面上,每三个倒易阵点组合可求出一对倒易矢量间的夹角。根据夹角重复数M(β-M图)确定β角。从而可求出晶胞参数a,c。最后用叠代修正逼近指标化方法进行全衍射图的指标化。给出了计算机程序流程图。用四水醋酸镍和钨酸钾等作为实例,证明了本指标化方法是适用的。

非对称线形衍射线的线形拟合与Κα双线分离

一、引言 X射线衍射或其他衍射、光谱、频谱图中常常出现谱线的重叠现象。X射线衍射图中低角区总存在Ka双线重叠的问题.对X射线衍射线的线形拟合及Ka双线分离方法的研究,在晶体结构分析、晶粒大小测定、物相定量和晶胞参数精密测定等工作中都有重要的意义.

材料研究中系列试样的单标样法 X 射线定量分析

本文提出了用一个标样进行系列试样 X 射线定量相分析的方法.它克服了一般 X 射线定量方法需要混合研磨和手续烦复的缺点以及无标样 X 射线定量方法存在病态方程不易解决的问题.该方法对常规 X 射线定量分析具有普遍的实用性.

X射线小角散射中的粒子间相互干涉效应

X射线小角散射中的粒子间干涉效应是影响实验结果的一个重要因素.已有的若干粒子间干涉的模型和理论不能很好地解释实验事实.实际使用的粒子间干涉效应校正方法为不同浓度试样归一化散射曲线作图外推法.然而在材料科学的许多应用中常常无法测量不同浓度的稀释试样.因此找出干涉函数的经验方程有重要意义.该文测定了超细二硫化钼不同浓度试样在不同角度下的强度衰减因子,从而导出了干涉函数的经验方程:(?)^(-1)=[1+2.5ω^(1.4)+2θ°(15.4ω^(0.5)-23.6ω~2-1.3ω^(0.01))]^(-1)

人工神经网络与分析测试技术的研究与发展

回顾了人工神经网络研究的发展历程，简要介绍了神经网络模型与算法，对分析测试技术和相关学科中的人工神经网络研究及在流程控制、错误诊断、参数估计、传感器模型、模式识别与分类、环境监测与治理及光谱与化学分析中的应用等作了评述。引用参考文献１１３篇。

地质样品中岩性自动分类X－射线荧光光谱分析研究

鉴于地质样品岩性变化大，容易引起对Ｘ－射线荧光分析准确度的影响，尤其是主、次量元素受影响更大，因此，作者提出了岩性自动分类，交互有效－基本参数法分析地质样品中主、次量元素，并与原有的经验系数和其它方法进行了比较．结果表明本方法的准确度更好些。

化学计量学与X射线荧光光谱分析

简要回顾了Ｘ＿射线荧光分析中数学校正模型的发展进程；阐述了基体校正方程与化学计量学之间的关系；介绍了偏最小二乘回归、神经网络、专家系统和模式识别等近期研究成果；以及轻元素测定、微束和薄层分析等数据处理技术。

神经群结构、算法与X射线荧光光谱分析研究

研究了一种多组分型神经群网络结构．根据多元体系各变量间的内在规律，可在神经网络中由相互间具有紧密联系的一些神经元的集合形成群结构．采用这种非全连接方式的神经群网络结构，减少了连接权重，剔除了噪音，从而增强了模型稳定性，提高了Ｘ射线荧光光谱预测准确度，显著增加了神经网络的外推预测能力。

X射线光谱与神经网络中单组分型神经群结构研究

研究、比较了神经群结构与常规神经网络算法的预测性能，考察了过拟合与最佳拟合态等的关系。结果表明，在多元体系中，将神经网络单组分预测模型应用于Ｘ射线荧光光谱分析时，在预测准确度、模型稳定性和外推预测能力方面，神经群结构优于常规神经网络模型。

研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法

Ｘ射线粉末衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了Ｘ射线粉末衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的基本原理，综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。

X射线多晶衍射全谱图拟合方法在无机材料研究中的应用

Ｘ射线多晶衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法．本文介绍了该方法的基本原理，综述了该方法在无机材料结构研究领域，包括相交、缺陷、相的晶体结构和微结构、相定量分析及衍射图谱指标化等方面应用的最新进展．