Y_(1-x)Dy_xMnO_3薄膜的制备及磁性能研究

采用溶胶-凝胶法在Pt/Si基板上制备了Y_(1-x)Dy_xMnO_3(x=0.0～0.5)磁性薄膜,并对薄膜的微观结构和磁性能进行表征和测试.结果表明:Y_(1-x)Dy_xMnO_3薄膜的晶体结构为六方结构,空间点群为P6_3cm.Dy^(3+)掺杂进入到的YMnO_3晶胞结构中,使晶胞参数增大,结构发生畸变,改变了MnO_5与Y^(3+)的连接方式,从而诱导Y-Mn键角发生改变致其自旋结构的倾斜度增加,提升磁性能,Y_(0.5)Dy_(0.5)MnO_3薄膜的饱和磁化强度值Ms为2.58 emu/cm^3,比YMnO_3薄膜的饱和磁化强度值提高了2.8倍.高电场下的F-N机制影响了薄膜表面电荷对D-M的贡献作用,最终使自旋倾斜程度改善,薄膜磁性能提高.