类Na铜离子软X射线发射光谱和复合激光研究

本文报告我们在上海光机所的LF12激光装置上利用自制的XUV掠入射光栅摄谱仪,进行类Na铜离子复合泵浦软X射级激光研究的初步实验结果。在低泵浦条件下(2.5×10^(12)W/cm^2)得到的50A-120A波段铜激光等离子体XUV发射光谱的归类表明,存在强的类O、类F和类Na离子谱线,这是复合泵浦必须的;实验的光谱分辨率为0.05A,已经辨认出有可能产生激光作用的类NaCuXIX5g-4f跃迁(111.3A),5f-4d跃迁(103.0和103.2A),6g-4f跃迁(72.2A)和6f-4d跃迁(68.65A和68.74A)谱线,它们对应于复合泵浦类Li离子的4f-3d、4d-3p、5f-3d和5d-3p跃迁激光谱线。

线聚焦激光产生的硅等离子体XUV光谱研究

在进行类锂硅离子软X射线激光研究的初步实验中,我们用自制的1米消象散掠入射光栅谱仪拍摄了线聚焦激光产生的硅等离子体在40A-120A光谱范围里内的XUV光谱。在六路激光装置的实验中,1.06μm激光脉冲宽度约为300ps,激光能量约为15j,激光束经柱面镜和非球面镜聚焦至平面硅靶上,焦线长度约为10mm,宽度约为200μm,靶面线功率密度约为50GW/cm,靶面功率密度约为2.5×10^(12)W/cm^2。为了扣除辐照不均匀的焦线的两端部,只取用焦线的中问部分,实验选用8mm宽的硅平面靶。用无保护层X光底片,经多发积累拍摄了8mm硅激光等离子体轴向和非轴向的XUV光谱,在LF12激光装置的实验中,1.05μm激光脉冲宽度约为900ps,到达靶面激光能量约为50j。激光束经柱面透镜列阵和非球面透镜聚焦成约21mm长,130μm宽的焦线。靶面浅功率密度约为26GW/cm,靶面功率密度约为210^(12)Wm改变硅靶的宽度获得了不同长度的线状等离子体。用对XUV幅射很灵敏的Kodak101-01底片接收记录,一发足以获得很好光的光谱。

消像散掠入射平场光栅谱仪及其在等离子体XUV光谱诊断中的应用

研制成一台由柱面反射镜和球面反射镜组成的掠入射前置光学系统和变间距球面光栅组成的掠入射平场光栅谱仪,它不仅有较高的效率和光谱分辨,调整方便,而且还具有在4.4nm～30nm波长范围里同时获得一维空间分辨光谱的能力.用该谱仪成功地获得了线聚焦激光产生的Si,Cu及其它元素的等离子体柱的轴向空间分辨光谱.该谱仪很适合与具有平直接收表面的光电探测器,如软X射线条纹相机等联用以获得时间分辨光谱.

激光等离子体空间分辨XUV光谱技术

本文描述了环面镜-掠入射光栅谱仪系统获得激光等离子体空间分辨XUV光谱的原理,系统结构参数和实验结果,并讨论了这种环面镜技术和交叉狭缝技术各自的优缺点。