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国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证
被引量:
1
1
作者
路大勇
程崴
金文仁
《现代科学仪器》
2014年第1期153-157,共5页
采用冷压陶瓷技术开发具有一级相变、居里温度(TC)低于室温的(Ba0.91La0.09)Ti1-0.09/4O3(BL9T)单相陶瓷。该陶瓷用于国产X射线衍射仪低温粉末XRD测量时的温度准确性验证。考虑晶体结构随温度的弛豫后,由介电温谱和变温拉曼光谱...
采用冷压陶瓷技术开发具有一级相变、居里温度(TC)低于室温的(Ba0.91La0.09)Ti1-0.09/4O3(BL9T)单相陶瓷。该陶瓷用于国产X射线衍射仪低温粉末XRD测量时的温度准确性验证。考虑晶体结构随温度的弛豫后,由介电温谱和变温拉曼光谱技术综合确定的砭最高为-62℃,以确保BL9T在%以上始终处于立方结构。以BL9T的单胞体积(圪)与温度的线性膨胀关系为依据,验证了在低于室温进行粉末×RD测量时变温样品室具有较高的温度准确性。在-30℃到-60℃温度范围内,变温样品室内热电偶的监控温度(瓦)与陶瓷粉末样品表面的实际温度(t)的偏差非常小(〈2℃)。
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关键词
X射线衍射仪
变温样品室
钛酸镧钡陶瓷
低温粉末XRD测量
介电温度特性
变温拉曼光谱
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职称材料
题名
国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证
被引量:
1
1
作者
路大勇
程崴
金文仁
机构
吉林化工学院材料科学与工程研究中心
东北师范大学化学学院
丹东浩元仪器有限公司
出处
《现代科学仪器》
2014年第1期153-157,共5页
基金
基金资助:吉林省科技发展计划项目(20121825)和吉林市工业高新技术项目(201212206)
文摘
采用冷压陶瓷技术开发具有一级相变、居里温度(TC)低于室温的(Ba0.91La0.09)Ti1-0.09/4O3(BL9T)单相陶瓷。该陶瓷用于国产X射线衍射仪低温粉末XRD测量时的温度准确性验证。考虑晶体结构随温度的弛豫后,由介电温谱和变温拉曼光谱技术综合确定的砭最高为-62℃,以确保BL9T在%以上始终处于立方结构。以BL9T的单胞体积(圪)与温度的线性膨胀关系为依据,验证了在低于室温进行粉末×RD测量时变温样品室具有较高的温度准确性。在-30℃到-60℃温度范围内,变温样品室内热电偶的监控温度(瓦)与陶瓷粉末样品表面的实际温度(t)的偏差非常小(〈2℃)。
关键词
X射线衍射仪
变温样品室
钛酸镧钡陶瓷
低温粉末XRD测量
介电温度特性
变温拉曼光谱
Keywords
X-ray diffractometer
Temperature camera
Barium lanthanum titanate ceramic
Powder XRD measurement at a low temperature
Dielectric-temperature characteristics
Temperature-dependent Raman spectra
分类号
N34 [自然科学总论]
TH89 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证
路大勇
程崴
金文仁
《现代科学仪器》
2014
1
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