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变位检测方式的超微型硬度计
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作者 金沢憲一 河野彰夫 +3 位作者 佐田登志夫 田代良雄 张仲明 唐义全 《应用光学》 CAS CSCD 1991年第6期57-62,共6页
一、前言随着近代薄膜生产技术的发展,形形色色的薄膜被广泛应用起来。然而关于薄膜自身机械性能的检测却还没有一个统一而有效的方法。目前对超低负荷压痕硬度检测不能间接反映薄膜强度,因此有必要研制新式的硬度试验装置。
关键词 变位检测 硬度计 超微型
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