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题名利用分光计测量折射率的一种拓展方法
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作者
钟翊
吴翰钟
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机构
华中科技大学(物理学院)精密重力测量国家重大科技基础设施
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出处
《中文科技期刊数据库(全文版)自然科学》
2024年第2期0194-0199,共6页
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文摘
利用分光计测量玻璃介质的折射率是大学物理实验课程中的一个重要内容. 实验中,通过测量三棱镜的顶角和最小偏向角,利用折射定律,实现对玻璃介质折射率的精确测量. 其中,当入射角等于二次折射角时,偏向角达到最小值. 介绍了一种折射率测量的方法,偏向角不为最小值时,通过测量反射角和偏向角,能够实现对玻璃折射率的精确测量. 采用汞灯作为测量光源,分别对K9和JGS1玻璃的折射率进行了测量.实验结果表明:提出的方法能够实现对玻璃折射率的精确测量,与经验公式计算值相比,测量不确定度为10-4量级.
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关键词
分光计
折射率
色散
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分类号
O435.1
[机械工程—光学工程]
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题名电浆在半导体领域分析
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作者
钟翊
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机构
国家知识产权局专利局
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出处
《电子世界》
CAS
2021年第5期7-8,共2页
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文摘
半导体作为多种技术的集成体,需要通过多种技术实现对半导体产品的研发和制作,在具体的处理过程中,涉及多种工作体系的建设。本文探讨了电浆在半导体领域内起到关键作用的设备类型,分析其在半导体领域内的具体使用方法,并在此基础上分析了相对应的质量控制模式,从而让电浆可以在半导体领域内更好发挥应有作用。电浆刻蚀,又名等离子体刻蚀,在半导体制造工艺中被广泛应用,是制造半导体芯片的关键技术之一。
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关键词
质量控制模式
半导体领域
半导体制造工艺
等离子体刻蚀
半导体芯片
半导体产品
设备类型
处理过程
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分类号
F42
[经济管理—产业经济]
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