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Ag对TDDI结构电容值的影响研究
被引量:
1
1
作者
占小奇
钱志禹
+4 位作者
李艳平
孙勇
陈平
陈徐通
贾博超
《电子世界》
2017年第22期105-107,共3页
本文主要研究了Ag(银)胶涂覆对TDDI结构的电容值的影响,Ag胶的主要作用是导通CF层与TFT层(ITO)防止静电产生,避免静电累积在Cell盒内导致画面显示异常。研究表明Ag胶易渗入到Cell盒内与BM接触,使BM与外围的GND接地,与COM形成压差,导致...
本文主要研究了Ag(银)胶涂覆对TDDI结构的电容值的影响,Ag胶的主要作用是导通CF层与TFT层(ITO)防止静电产生,避免静电累积在Cell盒内导致画面显示异常。研究表明Ag胶易渗入到Cell盒内与BM接触,使BM与外围的GND接地,与COM形成压差,导致电容值偏大。本研究为后续优化Ag胶工艺,控制Ag胶的大小及位置提供参考方向。
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关键词
TDDI
AG
电容值
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职称材料
大尺寸背光源MoldFrame与Panel搭配尺寸设计
2
作者
陈洪刚
钱志禹
+2 位作者
孙勇
陈徐通
彭帆
《科技资讯》
2017年第21期107-109,共3页
该文以大尺寸背光与Panel的设备自动对合为基础,考虑材料工艺条件限制、无尘室温度、产品翘曲、设备对合偏差等因素对背光源Mold Frame与Panel搭配的影响,提出了Mold Frame与Panel在设计过程中尺寸公差应当如何匹配。文中以65 inch产品...
该文以大尺寸背光与Panel的设备自动对合为基础,考虑材料工艺条件限制、无尘室温度、产品翘曲、设备对合偏差等因素对背光源Mold Frame与Panel搭配的影响,提出了Mold Frame与Panel在设计过程中尺寸公差应当如何匹配。文中以65 inch产品的背光源Mold Frame和Panel为基准,计算各种因素的影响量,最终得出Mold Frame与Panel尺寸差的设计范围(尺寸差的平方≥各种材料影响公差平方和+对合精度平方×2)。
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关键词
背光源
尺寸设计
方差
MOLD
FRAME
PANEL
公差
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职称材料
大尺寸液晶显示屏MURA不良电学补偿研究
3
作者
葛宜峰
钱志禹
+5 位作者
陈平
孙勇
李艳平
刘海滨
李方庆
彭帆
《电子世界》
2018年第1期11-13,共3页
由于设备工艺的原因,高世代线大尺寸液晶显示屏Mura的不良发生率较高。Mura不良在显示上主要表现为局部灰度差异,理论上可通过提高或降低不良区域的灰阶值减轻不良现象。本文主要针对Mura不良电学补偿的研究,阐述一种Mura不良修复方法...
由于设备工艺的原因,高世代线大尺寸液晶显示屏Mura的不良发生率较高。Mura不良在显示上主要表现为局部灰度差异,理论上可通过提高或降低不良区域的灰阶值减轻不良现象。本文主要针对Mura不良电学补偿的研究,阐述一种Mura不良修复方法的原理,修复系统的构成。在实际生产中可有效降低Mura不良率,提高产品品质,增加公司效益。
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关键词
Mura
图像采集
修复算法
信号补偿
烧录
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职称材料
Open Cell包装防潮性研究
4
作者
聂保勇
钱志禹
孙勇
《中国设备工程》
2017年第12期99-100,共2页
本文主要从Open Cell BOX设计,及不同干燥剂吸收能力进行对比,介绍发泡材料释放水的特点,采用不同烘烤方式及时间,为防潮包装提供一个参考方法。
关键词
受潮
BOX
防潮包装
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职称材料
题名
Ag对TDDI结构电容值的影响研究
被引量:
1
1
作者
占小奇
钱志禹
李艳平
孙勇
陈平
陈徐通
贾博超
机构
合肥京东方显示技术有限公司
出处
《电子世界》
2017年第22期105-107,共3页
文摘
本文主要研究了Ag(银)胶涂覆对TDDI结构的电容值的影响,Ag胶的主要作用是导通CF层与TFT层(ITO)防止静电产生,避免静电累积在Cell盒内导致画面显示异常。研究表明Ag胶易渗入到Cell盒内与BM接触,使BM与外围的GND接地,与COM形成压差,导致电容值偏大。本研究为后续优化Ag胶工艺,控制Ag胶的大小及位置提供参考方向。
关键词
TDDI
AG
电容值
分类号
TM934.2 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
大尺寸背光源MoldFrame与Panel搭配尺寸设计
2
作者
陈洪刚
钱志禹
孙勇
陈徐通
彭帆
机构
京东方显示技术有限公司
出处
《科技资讯》
2017年第21期107-109,共3页
文摘
该文以大尺寸背光与Panel的设备自动对合为基础,考虑材料工艺条件限制、无尘室温度、产品翘曲、设备对合偏差等因素对背光源Mold Frame与Panel搭配的影响,提出了Mold Frame与Panel在设计过程中尺寸公差应当如何匹配。文中以65 inch产品的背光源Mold Frame和Panel为基准,计算各种因素的影响量,最终得出Mold Frame与Panel尺寸差的设计范围(尺寸差的平方≥各种材料影响公差平方和+对合精度平方×2)。
关键词
背光源
尺寸设计
方差
MOLD
FRAME
PANEL
公差
分类号
T119 [一般工业技术]
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职称材料
题名
大尺寸液晶显示屏MURA不良电学补偿研究
3
作者
葛宜峰
钱志禹
陈平
孙勇
李艳平
刘海滨
李方庆
彭帆
机构
合肥京东方显示技术有限公司
出处
《电子世界》
2018年第1期11-13,共3页
文摘
由于设备工艺的原因,高世代线大尺寸液晶显示屏Mura的不良发生率较高。Mura不良在显示上主要表现为局部灰度差异,理论上可通过提高或降低不良区域的灰阶值减轻不良现象。本文主要针对Mura不良电学补偿的研究,阐述一种Mura不良修复方法的原理,修复系统的构成。在实际生产中可有效降低Mura不良率,提高产品品质,增加公司效益。
关键词
Mura
图像采集
修复算法
信号补偿
烧录
Keywords
Mura
Image Acquisition
Correcting algorithm: Signal Compensation
Writer
分类号
S858.31 [农业科学—临床兽医学]
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职称材料
题名
Open Cell包装防潮性研究
4
作者
聂保勇
钱志禹
孙勇
机构
合肥京东方显示技术有限公司
出处
《中国设备工程》
2017年第12期99-100,共2页
文摘
本文主要从Open Cell BOX设计,及不同干燥剂吸收能力进行对比,介绍发泡材料释放水的特点,采用不同烘烤方式及时间,为防潮包装提供一个参考方法。
关键词
受潮
BOX
防潮包装
分类号
TB489 [一般工业技术—包装工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Ag对TDDI结构电容值的影响研究
占小奇
钱志禹
李艳平
孙勇
陈平
陈徐通
贾博超
《电子世界》
2017
1
下载PDF
职称材料
2
大尺寸背光源MoldFrame与Panel搭配尺寸设计
陈洪刚
钱志禹
孙勇
陈徐通
彭帆
《科技资讯》
2017
0
下载PDF
职称材料
3
大尺寸液晶显示屏MURA不良电学补偿研究
葛宜峰
钱志禹
陈平
孙勇
李艳平
刘海滨
李方庆
彭帆
《电子世界》
2018
0
下载PDF
职称材料
4
Open Cell包装防潮性研究
聂保勇
钱志禹
孙勇
《中国设备工程》
2017
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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