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光热探针检测半导体离子注入剂量与均匀性
被引量:
2
1
作者
张淑仪
钱钟灵
+2 位作者
陆悦生
何菁
张仲宇
《微细加工技术》
EI
1993年第2期23-32,共10页
本文主要介绍光热探针技术的原理及其在半导体离子注入测试和监控中的应用。
关键词
离子注入
半导体
光热探针
检测
剂量
均匀性
下载PDF
职称材料
题名
光热探针检测半导体离子注入剂量与均匀性
被引量:
2
1
作者
张淑仪
钱钟灵
陆悦生
何菁
张仲宇
机构
南京大学声学研究所
出处
《微细加工技术》
EI
1993年第2期23-32,共10页
文摘
本文主要介绍光热探针技术的原理及其在半导体离子注入测试和监控中的应用。
关键词
离子注入
半导体
光热探针
检测
剂量
均匀性
Keywords
ion implantation
dose measurement
photo-thermal probe
分类号
TN305.3 [电子电信—物理电子学]
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作者
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1
光热探针检测半导体离子注入剂量与均匀性
张淑仪
钱钟灵
陆悦生
何菁
张仲宇
《微细加工技术》
EI
1993
2
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