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题名CMOS电路可测性设计的新方案
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作者
Favali,M
铨方
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出处
《微电子测试》
1991年第4期37-43,10,共8页
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关键词
CMOS
数字集成电路
测量
设计
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分类号
TN432.02
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名锁相集成电路测试中问题的探讨
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作者
铨方
牛顺增
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出处
《微电子测试》
1991年第1期10-13,共4页
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关键词
锁相
集成电路
测试
集成锁相环
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分类号
TN911.8
[电子电信—通信与信息系统]
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题名CMOS集成电路的IDDQ测试
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作者
铨方
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出处
《微电子测试》
1991年第4期20-21,共2页
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关键词
CMOS
集成电路
IDDQ
测试
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分类号
TN432.07
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名JTAG边缘扫描可测试性设计
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作者
铨方
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出处
《微电子测试》
1989年第4期3-8,共6页
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关键词
JTAG
边缘扫描
集成电路
测试
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名先进逻辑电路的选择和应用
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作者
铨方
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出处
《微电子测试》
1992年第2期34-43,共10页
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关键词
逻辑电路
接口电路
选择
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分类号
TN431.2
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名专用集成电路的验证和测试
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作者
铨方
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出处
《微电子测试》
1989年第3期3-7,共5页
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关键词
集成电路
验证
测试
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名模拟集成电路瞄准测试仪的管脚电子部件
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作者
Goode.,F
铨方
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出处
《微电子测试》
1990年第4期39-43,共5页
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关键词
摸拟集成电路
测试仪
管脚
元件
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分类号
TN431.107
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名关于超大规模集成电路老化的现实考虑
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作者
Hant.,ER
铨方
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出处
《微电子测试》
1990年第2期36-47,共12页
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关键词
VLSI
老化
可靠性
测试
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分类号
TN470.6
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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