基于MAX1978的非致冷红外焦平面温度控制系统

温度不稳定是影响非致冷红外焦平面探测器性能的重要因素之一。设计了一种基于MAX1978的温度控制系统。该系统采用闭环控制结构,通过外部PID补偿网络控制驱动TEC模块,实现了对探测器温度的控制。实验结果表明,该系统能够有效地对焦平面温度进行控制,其精度可达到0.06℃。

并口EEPROM芯片研发中的验证策略研究

EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)存储芯片是目前数字设备中常用的存储器件,其中支持并口传输的EEPROM传输速度快、性能更好,受到更多用户的青睐。与此同时,EEPROM存储芯片除了存储阵列容量大,其内部控制逻辑复杂、时序的可容忍偏差小、地址译码繁杂、状态及设计困难、地址遍历验证非常耗时,且随容量的提升呈指数级增加,这就对项目的质量和进度产生重要影响。因此,通过多种措施提升EDA仿真验证平台的能力和效率,缩短验证时间,提高验证完备性,已经成为并口EEPROM存储芯片研发过程中的痛点和难点。本文以实际工作中并口EEPROM存储芯片的研发过程为依托,对基于UVM仿真平台的验证策略展开研究,为提高此类芯片的研发效率提供经验参考。