期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
单片机控制的PTCR热敏电阻器阻-温特性测试系统 被引量:1
1
作者 黄文成 阳永庚 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1997年第6期47-49,共3页
介绍一种用MCS-51单片机控制的PTCR热敏电阻器阻-温特性测试系统,其中分压取样电阻器采用模拟开关进行切换。测试系统由样品室、模拟开关、R-V变换器、信号放大器、A/D转换器、D/A转换器、记录仪、单片机和打印机... 介绍一种用MCS-51单片机控制的PTCR热敏电阻器阻-温特性测试系统,其中分压取样电阻器采用模拟开关进行切换。测试系统由样品室、模拟开关、R-V变换器、信号放大器、A/D转换器、D/A转换器、记录仪、单片机和打印机等部分组成,样品室内设有加热电炉和热电偶等部件。 展开更多
关键词 PTCR 热敏电阻器 阻-温特性 测试系统
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部