1
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面向IP核测试复用的测试环设计 |
陆思安
严晓浪
李浩亮
沈海斌
何乐年
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《浙江大学学报(工学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
8
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2
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嵌入式存储器内建自测试的原理及实现 |
陆思安
何乐年
沈海斌
严晓浪
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《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
15
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3
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面向系统芯片的可测性设计 |
陆思安
史峥
严晓浪
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
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2001 |
10
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4
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面向系统芯片的验证策略 |
陆思安
余龙理
陈必龙
何乐年
严晓浪
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
2
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5
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基于核的信息安全处理芯片可测性设计 |
陆思安
何剑春
严晓浪
何乐年
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
0 |
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6
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面向电源噪声的动态电流测试 |
陆思安
严晓浪
沈海斌
何乐年
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《电路与系统学报》
CSCD
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2003 |
0 |
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7
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超深亚微米芯片互连线电感提取技术及应用 |
何剑春
陆思安
何乐年
葛海通
严晓浪
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《浙江大学学报(工学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
2
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8
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实现测试复用的SOC设计中的测试结构 |
王超
沈海斌
陆思安
严晓浪
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
0 |
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