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低能聚焦电子束诱导的金属表面局域荷电效应
1
作者
陈东政
朱瑞
徐军
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第3期244-250,共7页
鉴于低能电子束微纳成像与分析的重要应用,本文着重研究低能电子束同金属样品的相互作用。低能电子束入射至金属表面,当总散射电子产率>1且入射束流密度较高时,发现测得透射束流会随时间而发生不同程度的衰减失稳现象。建立微观空穴...
鉴于低能电子束微纳成像与分析的重要应用,本文着重研究低能电子束同金属样品的相互作用。低能电子束入射至金属表面,当总散射电子产率>1且入射束流密度较高时,发现测得透射束流会随时间而发生不同程度的衰减失稳现象。建立微观空穴态复合模型讨论分析了透射束流衰减现象的物理机制,并推测透射束流衰减的原因。由于金属表面缺陷和吸附等将使得样品中所激发的空穴态寿命增加,降低了同自由电子复合几率,导致表面局域电荷积累,从而在宏观统计上导致电子发射效率的降低以及透射束流的衰减。
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关键词
低能电子束
金属表面
局域荷电
电子产率
束流衰减
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职称材料
题名
低能聚焦电子束诱导的金属表面局域荷电效应
1
作者
陈东政
朱瑞
徐军
机构
北京大学物理学院电子显微镜实验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第3期244-250,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(Nos.11327902
11605001)
科技部国家重大科学仪器设备开发专项项目(No.2013YQ120353)
文摘
鉴于低能电子束微纳成像与分析的重要应用,本文着重研究低能电子束同金属样品的相互作用。低能电子束入射至金属表面,当总散射电子产率>1且入射束流密度较高时,发现测得透射束流会随时间而发生不同程度的衰减失稳现象。建立微观空穴态复合模型讨论分析了透射束流衰减现象的物理机制,并推测透射束流衰减的原因。由于金属表面缺陷和吸附等将使得样品中所激发的空穴态寿命增加,降低了同自由电子复合几率,导致表面局域电荷积累,从而在宏观统计上导致电子发射效率的降低以及透射束流的衰减。
关键词
低能电子束
金属表面
局域荷电
电子产率
束流衰减
Keywords
slow energy electron beam
metal surface
local charge
electron yield
the decay of beam current
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
TG115.215.3 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
低能聚焦电子束诱导的金属表面局域荷电效应
陈东政
朱瑞
徐军
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2018
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