一种新型的测绘仪器检定仪

随着科学技术的发展,电子速测仪的功能已完全替代了电子经纬仪、光电测距仪、光学经纬仪、水准仪和平板仪,广泛应用于国民经济的各个部门。我国大批进口,型号有70多种。电子速测仪竖直角的精度直接影响水平距离和高度的精度,同时大型工件的制造和现代化成套设备的安装等,对竖直角精度的要求也日益提高。因此竖直角的检定势在必行。这些新型仪器的出现,传统的平行光管检定装置的局限性日益明显。国际上测绘仪器向多功能、自动化。

用于纳米级三维表面形貌及微小尺寸测量的原子力显微镜

SPM是在纳米尺度上进行测量的重要的测量仪器之一 ,随着SPM进入工业测量领域 ,SPM的校准、量值溯源和测量不确定度分析已经成为SPM能够作为计量仪器使用的关键所在。文章论述了一种计量型原子力显微镜的构成、校准以及在国际比对中的应用。

标准硅球直径精密测量系统的设计

基于多光束干涉的基本原理,导出了使用斐索干涉仪测量硅球直径多光束干涉光强分布的精确公式。针对目前的硅球直径测量系统忽略了多次反射对干涉信号造成的影响和系统中固有的条纹清晰度低的问题,研究了多次反射对干涉信号造成的误差,结果表明其最大光强误差可达到8%。通过对光学干涉系统结构设计和元件参数选择,最大限度地优化了干涉条纹的可见度,并设计出零背景光强标准硅球直径精密测量系统。数值模拟结果表明,该系统不仅极大地提高了干涉条纹对比度、消除了背景噪声,而且可通过改变透镜焦距调节干涉条纹的强度以达到CCD的最佳工作范围,从而提高了光强信号的测量准确度。

激光干涉共焦显微镜

光学共焦显微镜现己广泛地应用于微机械、生物样品、材料及微电子器件的三维测量,但经典的光学共焦显微镜由于原理性限制,其分辨率与精确度远低于接触式传感器。现结合双频激光干涉仪和共焦显微镜的优点,使激光干涉共焦显微镜不仅横向分辨率高,而且使纵向分辨率达到0.1nm,扩展不确定度U95=13.4nm,使之能测量纳米量级形位变化,而且测量值直接溯源至激光波长。

利用二维PSD器件测量小角度的研究 一种新型的自准直仪

文章中对二维PSD用于二维小角度测量的研制的原理方法和试验结果作了介绍 ,同时对二维PSD自准直仪的性能特点也有较详细的分析论述 ,也为小角度测量仪器的开发提出了一种崭新的方法。

激光长距离精密准直方法与装置

本文介绍长距离精密准直方法和研制成功的激光精密准直装置。该装置对960m准直距离的测量不确定度为0.16mm;用于建立3km火箭滑轨基准线,其合成不确定度<0.39mm。

智能化经纬仪检测系统

本文介绍一种新型的高精度高效率的经纬仪检测系统。该系统在检定时符合检定状态和使用状态一致的原则，消除了不符合时带来的系统误差，精度能满足目前世界上各种高精度的电子、光学经纬仪的检定要求。本仪器采用计算机进行控制与计算。

苏州对外加工贸易发展状况和趋势分析

对外加工贸易是我国目前处于主导地位的一种贸易方式。作为推动我国对外贸易和拉动国民经济持续、快速增长重要动力的加工贸易已越来越受到国内外人士的关注。

一种新型的汽车安全带紧急锁止测试台

一种新型的汽车安全带紧急锁止测试台张永年，陈允昌（中国计量科学研究院）随着我国汽车工业的迅速发展，汽车安全行驶非常重要，早在八八年八月我国就颁布了《中华人民共和国道路交通管理条例》对汽车在道路上安全行驶作了具体规定，九二年十二月一日，中国汽车工业总公...

激光准直技术在超高快速电梯安装中的应用

本文介绍了一种应用激光准直及光束锁定技术研制成功的新装置,该装置在超高快速电梯安装中取代了传统的吊线法老工艺,现场使用效果良好。

基于多光束干涉原理的相移算法研究

针对多光束干涉原理的相移算法包括算法误差及步长优化等问题,以菲索干涉仪精密测长为应用背景进行了研究.利用干涉光学的基本原理导出了在多束光干涉(经光学面多次反射、透射)的情况下干涉光强随相位分布的精确公式;在此基础上,通过数值分析的方法得出了利用菲索干涉仪精密测长的相移步长的优化取值范围和干涉光束最佳初相位差的范围;对余弦依赖算法所引起的光强误差分别就四步法、五步法得出了不同的依赖关系;并对多光束干涉算法中几种主要的误差来源进行了不确定度评估.

基于数值模拟的高准确度五步相移算法研究

传统五步算法具有很好的准确度,但必须满足测量中无法实现的等步长相移条件,这在实际测量中无法使用。为此在双光束干涉原理的基础上,提出了一种改进型的五步算法,实现了在10 nm范围内任意步长的算法高准确度。通过数值模拟,结果表明:对于1 nm的步长测量误差、0.1%的信号测量误差,改进型五步算法的算法准确度优于0.001个相位周期,而且不需要等步长相移控制。改进型五步算法不仅技术上更易于实现,其结果也更加可靠,对于指导精密测长的实验和研究工作具有十分重要的意义。

精密干涉测量中余弦依赖算法的误差研究

针对相移算法中以双光束干涉为基础的余弦依赖算法的算法误差,以菲佐干涉仪精密测长为应用背景进行了研究。利用干涉光学的基本原理导出了在多束光干涉(经光学面多次反射、透射)的情况下干涉光强随相位分布的精确公式;通过数值分析得出了在给定参量条件下忽略次级反射光所引入的光强误差达到14.4%;对余弦依赖算法所引起的光强误差分别就四步算法、五步算法得出了不同的依赖关系:由于四步算法比五步算法对光强误差更为敏感,因而五步算法具有更高的准确度;对于两个反射面均具有较高反射率的情况,必须考虑算法误差;当测长准确度要求不太高时,在两个或至少其中一个反射面反射率较低的情况下可以忽略算法误差的影响。