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题名基于粗糙集的不确定知识表示方法
被引量:4
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作者
胡涛
吕炳朝
陈光(示禹)
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机构
电子科技大学自动化系
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出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2000年第3期90-92,F004,共4页
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文摘
1 引言知识表示是人工智能(AI)研究中最关键的分支之一。传统的知识表示模型(如AQ11,ID3等),对知识描述是确定的、清晰的,即:被描述的对象具有或不具有某种属性是明确的。然而,在现实世界中,人们常常面对的是在领域信息不完整、不确定、不精确的前提下,完成对事物的认识、分析、推理、判断、预测和决策。这种智能行为往往要求人们对未知的信息进行估计、推测;对不完整数据进行分析、处理;
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关键词
知识表示
粗糙造集
人工智能
信息处理
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Keywords
Rough set,Knowledge representation,Atomic concept .Property set model
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分类号
TP18
[自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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题名门时滞故障的可测性分析
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作者
王勇
陈光(示禹)
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机构
电子科技大学自动化系CAT室
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出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
1998年第5期127-129,共3页
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文摘
测试问题日益成为VLSI发展中的瓶颈问题,为了减少测试的困难,人们普遍接受的途径是在设计过程中就考虑电路的可测性,即采用可测性设计(DesLgn fo:Testab;lity)方法以减低测试成本。在可测性设计过程中可测性分析是极其重要的一环,所谓可测性是一种定量的测度,表示系统测试难易或测试性价比合理的程度。通过可测性分析人们可以找出电路中较难测试的区域,以便修改设计。
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关键词
VLSI
门时滞故障
可测性
集成电路
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Keywords
Gate-delay-faults, Testability measures, Controllability, Observability
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分类号
TN470.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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