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t检验在化探样品分析中的应用 被引量:3
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作者 陈团万 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1989年第6期555-557,共3页
以化探扫面开发性试验中一个实例,证明在化探样品分析中,t检验方法可以做为对样品分析数据进行校正的依据,求出了校正系数,并指出了方法的适用条件。
关键词 化探分析 化探样品 T检验 校正
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关于双份分析精密度计算公式的讨论 被引量:1
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作者 陈团万 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1991年第3期79-80,39,共3页
在日常分析质量监控中,常用双份分析来评估以“重复性”一词(repeatability)表征的精密度。计算公式为:|A—B|/(A+B),其中A、B为同一样品两次分析结果。如果不用绝对值记号,则计算公式为:(A—B)/(A+B),并规定A≥B。后一种形式用得较多... 在日常分析质量监控中,常用双份分析来评估以“重复性”一词(repeatability)表征的精密度。计算公式为:|A—B|/(A+B),其中A、B为同一样品两次分析结果。如果不用绝对值记号,则计算公式为:(A—B)/(A+B),并规定A≥B。后一种形式用得较多。上述公式简单明了,计算方便,沿用了几十年,在光谱分析中用得更多。近年来。 展开更多
关键词 双份分析 精密度 计算公式
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