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一种MFIS类结构的阈值电压新模型及其C—V特性分析
1
作者
陈园琦
林殷茵
+1 位作者
汤庭鳌
夏立
《复旦学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第1期105-110,共6页
采用物理和数学分析相结合的方法,构建了MFIS结构阈值电压的一种新的解析模型,对此解析模型的分析表明,铁电材料的介电常数越低,电滞回线的矩形度越好,MFIS结构的存储特性越好.由该模型进一步得到了MFIS结构的C—V曲线,对C—V曲线物理...
采用物理和数学分析相结合的方法,构建了MFIS结构阈值电压的一种新的解析模型,对此解析模型的分析表明,铁电材料的介电常数越低,电滞回线的矩形度越好,MFIS结构的存储特性越好.由该模型进一步得到了MFIS结构的C—V曲线,对C—V曲线物理过程的分析表明,工作频率以及铁电电滞回线是否饱和对C—V特性有较大影响,而C—V曲线的窗口与MFIS结构存储特性密切相关.
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关键词
C-V特性
阈值电压
电滞回线
解析模型
工作频率
介电常数
铁电材料
存储特性
数学分析
曲线
原文传递
题名
一种MFIS类结构的阈值电压新模型及其C—V特性分析
1
作者
陈园琦
林殷茵
汤庭鳌
夏立
机构
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《复旦学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第1期105-110,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(60206005)
文摘
采用物理和数学分析相结合的方法,构建了MFIS结构阈值电压的一种新的解析模型,对此解析模型的分析表明,铁电材料的介电常数越低,电滞回线的矩形度越好,MFIS结构的存储特性越好.由该模型进一步得到了MFIS结构的C—V曲线,对C—V曲线物理过程的分析表明,工作频率以及铁电电滞回线是否饱和对C—V特性有较大影响,而C—V曲线的窗口与MFIS结构存储特性密切相关.
关键词
C-V特性
阈值电压
电滞回线
解析模型
工作频率
介电常数
铁电材料
存储特性
数学分析
曲线
Keywords
semiconductor technique
nonvolatile memory
metal-ferroelectric-insulator-semiconductor (MFIS)
threshold voltage
C-V
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
TN386 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种MFIS类结构的阈值电压新模型及其C—V特性分析
陈园琦
林殷茵
汤庭鳌
夏立
《复旦学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
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