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利用一维光栅标样校准扫描电子显微镜方法的研究
被引量:
6
1
作者
钱进
石春英
+4 位作者
谭慧萍
刘忠有
陈方毓
陈晓霞
黄晓蓉
《计量学报》
CSCD
北大核心
2010年第4期299-302,共4页
提出了扫描电子显微镜量值溯源的测量方法,对3种类型的10台电镜进行了比对实验。实验数据溯源于国家长度基准。比对实验选取显微镜的放大倍数分别为2000×、5000×、10000×、20000×和50000×所对应的标尺作为测...
提出了扫描电子显微镜量值溯源的测量方法,对3种类型的10台电镜进行了比对实验。实验数据溯源于国家长度基准。比对实验选取显微镜的放大倍数分别为2000×、5000×、10000×、20000×和50000×所对应的标尺作为测量对象。实验结果表明,有8台扫描电镜的标尺的准确度在5%的范围内与标准值符合,其余2台在6.5%的范围内与标准值符合。
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关键词
计量学
扫描电子显微镜
纳米光栅
线距标准装置
一维光栅
长度基准
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职称材料
题名
利用一维光栅标样校准扫描电子显微镜方法的研究
被引量:
6
1
作者
钱进
石春英
谭慧萍
刘忠有
陈方毓
陈晓霞
黄晓蓉
机构
中国计量科学研究院
武汉钢铁公司技术中心
武汉科技大学材料与冶金学院
中国测试技术研究院
出处
《计量学报》
CSCD
北大核心
2010年第4期299-302,共4页
文摘
提出了扫描电子显微镜量值溯源的测量方法,对3种类型的10台电镜进行了比对实验。实验数据溯源于国家长度基准。比对实验选取显微镜的放大倍数分别为2000×、5000×、10000×、20000×和50000×所对应的标尺作为测量对象。实验结果表明,有8台扫描电镜的标尺的准确度在5%的范围内与标准值符合,其余2台在6.5%的范围内与标准值符合。
关键词
计量学
扫描电子显微镜
纳米光栅
线距标准装置
一维光栅
长度基准
Keywords
Metrology
Scanning electron microscope ( SEM )
Nanometer grating
Pitch standard
1 D-grating
Length primary standard
分类号
TB92 [机械工程—测试计量技术及仪器]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
利用一维光栅标样校准扫描电子显微镜方法的研究
钱进
石春英
谭慧萍
刘忠有
陈方毓
陈晓霞
黄晓蓉
《计量学报》
CSCD
北大核心
2010
6
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职称材料
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